730-0144/01 – Laboratory practice in microscopy (LCM)
Gurantor department | Nanotechnology centre | Credits | 3 |
Subject guarantor | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. | Subject version guarantor | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. |
Study level | undergraduate or graduate | Requirement | Compulsory |
Year | 1 | Semester | summer |
| | Study language | Czech |
Year of introduction | 2007/2008 | Year of cancellation | 2009/2010 |
Intended for the faculties | USP | Intended for study types | Follow-up Master |
Subject aims expressed by acquired skills and competences
The goal is to practice application of electron mikroscopy and scanning probe microscopy metods including samples preparation and results evaluation.
Teaching methods
Summary
The subject follow up the lectures on scanning probe microscopy and electron microscopy. Applications of the methods (electron microscopy and microanalysis, AFM) will be practise. Problems of chemical, structure and phase analysis of materials in micro- and nano- dimensions will be solved. Attention will be focused on the samples preparation and results evaluation methods.
Compulsory literature:
Recommended literature:
Way of continuous check of knowledge in the course of semester
E-learning
Other requirements
Prerequisities
Subject has no prerequisities.
Co-requisities
Subject has no co-requisities.
Subject syllabus:
- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. Příprava uhlíkových
replik, extrakčních replik a tenkých kovových fólií. Příprava práškových
vzorků.
- Transmisní elektronová mikroskopie. Zobrazení ve světlém a tmavém poli.
Zobrazení krystalové mřížky a struktury. Studium vybraných kovových,
nekovových a práškových vzorků.
- Příprava vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii. Řezání, broušení,
leštění vzorků, naprašování vrstvou kovu a uhlíku.
- Skenovací elektronová mikroskopie. Zobrazení v režimu sekundárních a
odražených elektronů. Analýza lomových ploch, struktury materiálů a
morfologie práškových materiálů.
- Rentgenová mikroanalýza. Bodová analýza inkluzí v kovových materiálech
a rozdílných fází v kovových i nekovových materiálech. Liniový a plošná
analýza fázových rozhraní a povr-chových vrstev.
- Měření vzorků metodou AFM v kontaktním režimu. Měření povrchů polovodičů
a mikro-vpichů na povrchu oceli.
- Měření vzorků metodou AFM v nekontaktním režimu. Měření částic vybraných
práškových vzorků (fylosilikáty, oxidy).
- Vyhodnocení a úprava dat získaných z AFM. Vyhodnocení pomocí programu
SPMLab. Vyhodnocení a úprava dat pomocí programu Gwyddion.
Conditions for subject completion
Occurrence in study plans
Occurrence in special blocks
Assessment of instruction
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.