480-2023/01 – Fyzikální metody analýzy materiálů (FMAM)
| Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 5 |
| Garant předmětu | doc. Ing. Irena Hlaváčová, Ph.D. | Garant verze předmětu | doc. Ing. Irena Hlaváčová, Ph.D. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
| Ročník | 1 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2018/2019 | Rok zrušení | |
| Určeno pro fakulty | FEI | Určeno pro typy studia | bakalářské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Vyjmenovat základní experimentální metody používané při analýze materiálů, popsat jejich princip a vymezit, jaké skupiny vlastností materiálů je možno jednotlivými postupy stanovit.
Vyučovací metody
Přednášky
Cvičení (v učebně)
Experimentální práce v laboratoři
Projekt
Anotace
Předmět Fyzikální metody analýzy materiálů studenty seznamuje s přehledem základních metod a nástrojů používaných při analýze vlastností materiálů.
Povinná literatura:
ECKERTOVÁ L., FRANK L.: Metody analýzy povrchů - elektronová mikroskopie a difrakce. Academia, 1996.
FRANK L., KRÁL J.: Metody analýzy povrchů - iontové, sondové a speciální metody. Academia, 2002.
ECKERTOVÁ L.: Experimentální metody fyziky pevných látek – metody analýzy povrchů. Univerzita Karlova, Praha, 1982.
en:
ECKERTOVA L.: Physics of Thin Films, Plenum Publishing Co., New York, SNTL Praha, 1986
DANILATOS G.D.: Advances in Electronics and Electron Physics, 78 (1990), 102
Doporučená literatura:
AMBROS F.: Experimentální metody a technika, ČVUT, 1993.
BRZKOVSKÝ K.: Experimentální metody měření, ČVUT, 1993.
DVOŘÁK L.: Úvod do fyziky kondenzovaných látek, UP Olomouc, 1993.
GRICOVÁ M.: Metody analýzy materiálů, ČVUT Praha, 1988.
en
DOEHNE E., BOWER N.W.: Microscopy and Microanalysis, 2, (1997), 535-563
COWLEY J.M.: Diffraction Physics, N. Holland Publishing Co., Amsterdam 1979
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
prezentace, panelová diskuze, testy
písemná a ústní zkouška
E-learning
Další požadavky na studenta
Student se pečlivě a zodpovědně připravuje do výuky, aktivně se účastní práce v laboratoři, samostatně vyhodnocuje experimentální výsledky, svědomitě a včas vypracovává protokoly z měření.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. Úvod do teorie měření – základy metrologie.
2. Elektronová struktura látek. Elektromagnetické záření.
3. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou I:
fotoelektronová spektroskopie.
4. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou II:
rentgenová spektroskopie.
5. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou III:
defektoskopie a difrakce.
6. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou I:
elektronová mikroskopie (rastrovací, Augerova)
7. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou II:
elektronová difrakce
8. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou III:
rentgenová mikroanalýza, hmotnostní spektroskopie
9. Analytická metoda založená na interakci neutronů s látkou: neutronová difrakce.
10. Analytické metody založené na interakci iontů s látkou:
spektroskopie rozptýlených, pomalých, sekundárních iontů, Rutherfordův zpětný rozptyl
11. Autoemisní mikroskopie a spektroskopie
12. Jaderné rezonanční metody - NMR, Mössbauerova spektroskopie.
13. Speciální experimentální techniky (magnetické, optické, magnetooptické...)
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky