480-4027/03 – Metody analýzy materiálů (MAM)

Garantující katedraKatedra fyzikyKredity4
Garant předmětuIng. Lucie Gembalová, Ph.D.Garant verze předmětuIng. Lucie Gembalová, Ph.D.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinně volitelný typu A
Ročník1Semestrletní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2024/2025Rok zrušení
Určeno pro fakultyFEIUrčeno pro typy studianavazující magisterské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
POL142 Ing. Lucie Gembalová, Ph.D.
ZIV01 prof. Ing. Ondřej Životský, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zápočet a zkouška 2+2

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Úkolem předmětu je představit vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně se jedná o difrakční (rentgenová difrakce), mikroskopické (skenovací a transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních a magnetických sil), magnetické (vibrační magnetometrie), magneto-optické a nukleární spektroskopické (Mossbauerova spektroskopie) metody.

Vyučovací metody

Přednášky
Experimentální práce v laboratoři

Anotace

Úkolem předmětu je představit vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně se jedná o difrakční (rentgenová difrakce), mikroskopické (skenovací a transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních a magnetických sil), magnetické (vibrační magnetometrie), magneto-optické a nukleární spektroskopické (Mossbauerova spektroskopie) metody.

Povinná literatura:

DRÁPALA, Jaromír; KURSA, Miroslav. Elektrotechnické materiály. Učební text, Ostrava, 2012. dostupné z: http://www.person.vsb.cz KUBÍNEK, Roman; VŮJTEK, Milan a MAŠLÁŇ, Miroslav. Mikroskopie skenující sondou. Monografie (Univerzita Palackého). Olomouc: Vydavatelství Univerzity Palackého, 2003. ISBN 80-244-0602-0. TUMAŃSKI, Sławomir. Handbook of magnetic measurements. Series in sensors. Boca Raton: CRC Press, Taylor & Francis Group, [2011]. ISBN 978-1-4398-2951-6. BRANDON, David; KAPLAN, Wayne D. Microstructural characterization of materials. John Wiley & Sons, 2013. ISBN: 9-780470-027844. EGERTON, R. Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM, and AEM. New York: Springer, c2005. ISBN 0-387-25800-0.

Doporučená literatura:

Články v odborných časopisech zaměřených na mikrostrukturu a magnetismus materiálů jako Journal of Alloys and Compounds, Materials Characterization, Journal of Magnetism and Magnetic Materials nebo Materials.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

Semestrální projekt. Kombinovaná zkouška.

E-learning

Další požadavky na studenta

Schopnost základní orientace v metodách analýzy materiálů.

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

1. Rentgenová difrakce 2. skenovací a transmisní elektronová mikroskopie 3. mikroskopie atomárních a magnetických sil 4. vibrační magnetometrie 5. magneto-optické metody 6. nukleární spektroskopické metody (Mossbauerova spektroskopie)

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 2024/2025 letní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodůMax. počet pokusů
Zápočet a zkouška Zápočet a zkouška 100 (100) 51
        Zápočet Zápočet 40  20
        Zkouška Zkouška 60  15 3
Rozsah povinné účasti: Účast studentů na cvičeních je povinná.

Zobrazit historii

Podmínky absolvování předmětu a účast na cvičeních v rámci ISP: Splnění všech povinných úkolů v individuálně dohodnutých termínech.

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2024/2025 (N0533A110006) Aplikovaná fyzika MMD P čeština Ostrava 1 povinně volitelný typu A stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku

Hodnocení Výuky

Předmět neobsahuje žádné hodnocení.