480-4037/01 – Optická a magnetická defektoskopie (OMD)

Garantující katedraKatedra fyzikyKredity6
Garant předmětudoc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.Garant verze předmětudoc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinně volitelný typu A
Ročník2Semestrzimní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2018/2019Rok zrušení
Určeno pro fakultyUSP, FEIUrčeno pro typy studianavazující magisterské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
HLU03 doc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.
ZIV01 doc. Ing. Ondřej Životský, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zápočet a zkouška 3+3

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Seznámit se na sérii laboratorních měření a teorie k nim s obecnými postupy použití optické diagnostiky.

Vyučovací metody

Přednášky
Cvičení (v učebně)
Experimentální práce v laboratoři

Anotace

Předmět navazuje na znalosti studenta z matematiky, fyziky a materiálů. Předmět je postaven na sérii laboratorních měření a teorii k nim a rozvíjí poznatky získané v předchozím studiu.

Povinná literatura:

Engst, P., Horák, M.: Aplikace laserů, SNTL, Praha 1989; Sochor,V.: Lasery a koherentní svazky, Academia, Praha 1990; Hariharan, P.: Optical Interferometry, Academic Press, New York 1985.

Doporučená literatura:

Balaš, J., Szabó,V.: Holografická interferometria v experimentalnej mechanike, Veda, Bratislava 1986. Pluta, M.: Advanced Light Microscopy. PWN, Warszava 1988.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

Zpracování protokolů měření.

E-learning

Není k dispozici.

Další požadavky na studenta

Předpokládá se soustavná práce studenta magisterského studia.

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

1. Defektoskopie izotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky). 2. Defektoskopie anizotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky). 3. Defektoskopie tenkých vrstev a struktur metodou reflektometrie, polarimetrie a interferometrie (měření tloušťky, popř. geometrie struktury). 4. Defektoskopie tenkých vrstev metodou optické mikroskopie. 5. Defektoskopie optických vláken metodami optické interferometrie. 6. Fyzikální úvod do magnetické defektoskopie. 7. Magnetická defektoskopie ocelových lan a trubek (zjišťování stavu lan) metodou rozptylových toků. 8. Magnetická defektoskopie s pomocí vířivých proudů.

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 2018/2019 zimní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zápočet a zkouška Zápočet a zkouška 100 (100) 51
        Zápočet Zápočet 40  20
        Zkouška Zkouška 60  11
Rozsah povinné účasti: Minimální účast na cvičeních 75%

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.FormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2019/2020 (N0533A110006) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava 2 povinně volitelný typu A stu. plán
2019/2020 (N1701) Fyzika (1702T001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava 2 povinně volitelný stu. plán
2018/2019 (N1701) Fyzika (1702T001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava 2 povinně volitelný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku