480-4050/01 – Vybrané kapitoly z optické diagnostiky (VKOD)
| Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 5 |
| Garant předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. | Garant verze předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | volitelný odborný |
| Ročník | 2 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2022/2023 | Rok zrušení | |
| Určeno pro fakulty | FEI | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Seznámit se s obecnými zákonitostmi užití optického záření v diagnostice a s různými způsoby optické diagnostiky s důrazem na refraktometrii, mikroskopii, topografii povrchu, měření délek a jejich změn, resp. spektroskopii.
Vyučovací metody
Přednášky
Semináře
Anotace
V rámci tohoto aplikačního předmětu budou dále rozvíjeny a prohlubovány znalosti z optiky s cílem podat přehled o různých metodách optické diagnostiky.
Povinná literatura:
Fuka, J., Havelka, B., Optika. SPN, Praha, 1961;
Sochor, V.: Lasery a koherentní svazky. Academia, Praha, 1990;
Halliday, D., Resnick, R., Walker, J.: Fyzika 4. Elektromagnetické vlny – optika – relativita. Vyd. 2., Praha: Vutium a Prometheus, 2013.
Doporučená literatura:
Sequens, J.: Technika zobrazení fyzikálních polí. Academia, Praha, 1980;
Hariharan, P.: Optical Interferometry. Academic Press, New York, 1985;
Pluta, M.: Advanced Light Microscopy. PWN, Warszava, 1988;
Yoshizawa, T., edit.: Handbook of Optical Metrology, 2nd Edition, CRC Press, New York 2015.
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
Písemky. Schopnost samostatného řešení zadaných problémů vázaných na Vybrané kapitoly z optické diagnostiky
E-learning
Není k dispozici.
Další požadavky na studenta
Předpokládá se soustavná práce studenta magisterského studia.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. Měření indexu lomu - refraktometrie
- index lomu a disperze, totální refraktometry, refraktometry využívalící povrchových vln, interferenční refraktometry
2. Optická mikroskopie
- optický mikroskop, mikroskop s fázovým kontrastem, mikroskop s polarizovaným světlem, konfokální mikroskop, fluorescenční mikroskop
3. Měření topografie povrchu
- konfokální skenovací mikroskopie, interferenční mikroskopie, spektrální interferometrie
4. Měření délek a jejich změn, měření rychlosti
- časová interferometrie, triangulace, měření doby šíření pulsu (Time-of-flight), spektrální interferometrie, dopplerovská anemometrie, metoda interference ve zkřížených svazcích
5. Stanovení průběhu fyzikálních polí
- interferometrie, interferometrie s polarizovaným světlem (fotoelasticimetrie), holografie
6. Spektroskopie
- hranolové a mřížkové spektrometry, kompaktní spektrometry, Fourierovské spektrometry
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.