516-0061/01 – Experimentální metody a nástroje pro nanotechnologie II - fyzikální (EMNN II)
| Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 6 |
| Garant předmětu | Mgr. Jaroslav Hamrle, Ph.D. | Garant verze předmětu | prof. Ing. Jaromír Pištora, CSc. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
| Ročník | 3 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2007/2008 | Rok zrušení | 2015/2016 |
| Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | bakalářské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Klasifikovat a identifikovat pokročilé technologie v nanostrukturách.
Formulovat základní principy přípravy a diagnostiky nanostruktur.
Posoudit výhody a nevýhody jednotlivých přístupů.
Predikovat nové trendy v aplikacích.
Vyučovací metody
Přednášky
Cvičení (v učebně)
Anotace
Předmět vychází ze základních geometrií nanostruktur a představuje vybrané
metody pro specifikaci jejich fyzikálních parametrů s orientací na optické
a magnetické diagnostické metody. Závěrečná partie ja zaměřena na mikro-
a nanosystémy a integraci mechanických, elektrických, magnetických a optických
komponent.
Povinná literatura:
Akhlesh LAKHTAKIA: The Handbook of Nanotechnology. Nanometer Structures:
Theory, Modeling, and Simulation, ISBN: 0-8194-5186-X, 576 stran, 2004;
Todd STEINER: Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Applications,
ISBN: 1-58053-751-0, 432 stran, 2004;
Robert KELSALL (Editor), Ian W. HAMLEY (Editor), Mark GEOGHEGAN (Editor):
Nanoscale Science and Technology, ISBN: 0-470-85086-8, 472 stran, 2005.
Doporučená literatura:
Michael RIETH, Wolfram SCHOMMERS: Handbook of Theoretical and Computational
Nanotechnology, 10-Volume Set, ASP-American Scientific Publishers, ISBN: 1-
58883-042-X, 2005.
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Systematická domácí příprava.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Obsahové zaměření:
- Úvod – nanostruktury: nanodráty, doty, kvantové jámy, nanomřížky, nanovlákna,
monoatomární systémy, multivrstvy, nanočástice.
- Fyzikální meze v nanostrukturách (superparamagnetická mez, Coulombovská
blokáda v elektronových přechodech, monodoménové uspořádání atd.).
- Charakterizace elektrických, optických, magnetooptických a magnetických
vlastností nanostruktur.
- Optická skaterometrie – základní principy, meze a aplikace (lokální
a integrální metody a přístupy).
- Spektrální elipsometrie nanostruktur (principy elipsometrie, základní exp.
uspořádání, modelování dat).
- ATR (Attenuated Total Reflection) metoda (studium povrchů, generace
optických a plazmonových vln).
- Kerrova mikroskopie, SQUID magnetometrie, skenování Hallovou sondou,
magnetická rezonanční mikroskopie (základní principy a aplikace).
- MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) – integrace mechanických,
elektrických, magnetických a optických komponent v mikroskopickém měřítku.
- NEMS (Nano Electrical Mechanical Systems) - integrace mechanických,
elektrických, magnetických a optických komponent v nanoskopickém měřítku.
- Nové trendy v nanotechnologiích – progresivní měřicí techniky a nástroje.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky