516-0828/01 – Optická defektoskopie ()
| Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 3 |
| Garant předmětu | doc. RNDr. Jan Kopečný, CSc. | Garant verze předmětu | doc. RNDr. Jan Kopečný, CSc. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | 5 | Semestr | zimní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 1997/1998 | Rok zrušení | 2006/2007 |
| Určeno pro fakulty | | Určeno pro typy studia | |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Vyučovací metody
Anotace
Předmět rozvíjí do hloubky předmět Optické diagnostické metody ve směru
diagnostiky defektů. Zabývá se konkrétními aplikačními metodami a přístroji
na určování nehomogenit transparentních materiálů šlírovými, moire,
polarizačními a interferenčními metodami. Dále pojednává o aplikaci
interferometrických, zejména speckle a holografických metod pro určování
povrchových a vnitřních deformací neprůhledných objektů jako důsledků
tlakových, tahových, teplotních a vibračních namáhání vzorků. Zabývá se
optickými metodami kontroly povrchu.
Důležitým tématem je práce s CCD a digitální kamerou a následným zpracováním
obrazu jak pomocí softwaru tak Fourierovou transformací - zásahem do
obrazového
spektra frekvencí.
Povinná literatura:
1) Sochor, V.: Lasery a koherentní svazky, Academia, Praha 1990
2) Balaš, J. - Szabó, V.: Holografická interferometria v experimentalnej
mechanike, Veda, Bratislava 1986
3) Sequens, J.: Technika zobrazení fyzikálních polí, Aacademia,
Praha 1980
4) Brož, J.: Základy fyzikálních měření II,A,B. SPedN, Praha 1961
5) Fuka, J. - Havelka, B.: Optika, SPedN, Praha 1961
6) Jones, S. R. - Wykes, C.: Holographic and Speckle Interferometry, Cambridge
University Press, Cambridge 1985
7) Kováč, S. - Ilavský, D. - Leško, J.: Metody kontroly technologických
procesov. Spektrálne metody v organickéj chemii a technologii. Alfa,
Bratislava 1987
8) Bouška, V. - Kašpar, P.: Speciální optické metody, Academia,
Praha 1983
9) Vrbová, M. a kol.: Lasery a moderní optika, Prometheus, Praha 1994
10)Schroder, G.: Technická optika, SNTL, Praha 1981
Doporučená literatura:
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Cíl:
- Prakticky a detailněji se seznámit s vybranými optickými diagnostickými
metodami.
- Zvládnout základy týmové práce.
- Procvičit si presentaci materiálů.
Témata:
1. Šlírová metoda kontroly optických materiálů
2. Holografická interferometrie – záznam holografického interferenčního obrazu
3. Interferometrie – měření malých odchylek a malých odklonů -
laserinterferometr
4. Interferometrie – zviditelnění fyzikálních polí
5. Digitalizace obrazu a jeho zpracování - Fourierova analýza - zásah
do obrazového spektra frekvencí
6. Elasticimetrie – zviditelnění a výpočet napěťových polí
7. Spektrální analýza
8. Analýza povrchu pomocí speckle obrazců
9. Vady optických prvků stanovení aberací, rozlišovací schopnost, funkce
přenosu kontrastu.
Praktické úlohy
ad 1) Využití šlírové metody.
Sestavení aparatury pro šlírová měření. Zviditelnění nehomogenit v průmyslovém
užitkovém skle - okenní tabuli, plexisklu.
ad 2) Práce na holografické aparatuře.
Sestavení aparatury pro vyšetřování vibrací. Stanovení uzlů a kmiten
pracujícího reproduktoru. Určení deformačního pole tlakově namáhaného vzorku.
ad 5) Principy optického zpracování obrazu.
Uvedení do chodu CCD kamery. Práce s digitální kamerou, další zpracování jejího
obrazu.
ad 7) Analýza povrchu pomocí speckle obrazců
Sestavení aparatury pro záznam speckle obrazců. Nasnímání speckle vyšetřovaného
povrchu. Vyhodnocení srovnání speckle obrazců neznámého a normálového povrchu.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.