516-0894/01 – Optická defektoskopie (OD)
Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 4 |
Garant předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. | Garant verze předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
Ročník | 2 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2004/2005 | Rok zrušení | 2012/2013 |
Určeno pro fakulty | HGF | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Aplikovat poznatky obecných zákonitostí optického záření v měřicích defektoskopických metodách v různých technologiích výroby.
Vyučovací metody
Anotace
Předmět je postaven na sérii laboratorních měření a rozvíjí poznatky získané v předchozím studiu, např. v rámci předmětu Optické diagnostické metody, a využívá moderní přístrojové báze Laboratoře interferometrie a vláknové optiky.
Povinná literatura:
[1] SOCHOR,V. Lasery a koherentní svazky. Academia, Praha, 1990.
[2] JONES, S., R., WYKES, C. Holographic and Speckle Interferometry, Cambridge University Press, Cambridge 1985.
[3] BALAŠ, J., SZABÓ,V. Holografická interferometria v experimentalnej mechanike. Veda, Bratislava, 1986.
[4] PLUTA, M. Advanced Light Microscopy. PWN, Warszava 1988.
[5] ENGST, P., HORÁK, M. Aplikace laserů. SNTL, Praha, 1989.
[6] Články v odborných optických časopisech (např. Jemná mechanika a optika).
Doporučená literatura:
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
- Defektoskopie izotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
- Defektoskopie anizotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
- Defektoskopie tenkých vrstev a struktur metodou reflektometrie, polarimetrie a interferometrie (měření tloušťky, popř. geometrie struktury).
- Defektoskopie tenkých vrstev metodou optické mikroskopie.
- Defektoskopie optických vláken metodami optické interferometrie.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.