516-0929/02 – Tenké vrstvy (TV)
| Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 10 |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava | Garant verze předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
| Úroveň studia | postgraduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | | Semestr | zimní + letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2010/2011 | Rok zrušení | 2015/2016 |
| Určeno pro fakulty | FEI, HGF | Určeno pro typy studia | doktorské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Diskutovat základy přípravy tenkých vrstev, měření parametrů tenkých vrstev a povrchů, vlastnosti tenkých vrstev a jejich aplikace.
Shrnout optiku tenkých vrstev a povrchů, optické měřící metody a aplikace v optice, magnetismus tenkých vrstev, magnetické a elektrické vlastnosti tenkých vrstev a magnetické aplikace.
Porovnat technologie přípravy tenkých vrstev různými metodami.
Vyučovací metody
Přednášky
Individuální konzultace
Anotace
Základním cílem předmětu je seznámit studenty se základy přípravy tenkých
vrstev, měření parametrů tenkých vrstev a povrchů, vlastností tenkých vrstev
a jejich aplikacemi. Důraz je kladen na optiku tenkých vrstev a povrchů,
optické měřící metody a aplikace v optice, magnetismus tenkých vrstev,
magnetické vlastnosti tenkých vrstev a magnetické aplikace.
Dále jsou zahrnuty elektrické vlastnosti tenkých vrstev. Zahrnuty jsou partie
zabývající se jednak technologií ultratenkých vrstev o tloušťkách v řádu
nanometru a jednak vrstev vhodných pro následné zpracování litografickými
metodami a nanostrukturovaním.
Povinná literatura:
1) L. Eckertová, Fyzika tenkých vrstev, Populární přednášky o fyzice, Sv. 21.
2) J. Křepelka, Optika tenkých vrstev, UP Olomouc, 1993
3) H. A. Macleod, Thin-film optical filters, 2nd ed. Bristol, 1986
4) P. Yeh, Optical waves in layered media, Willey, New York 1988
5) R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light,
North-Holland, Amsterdam, 1977
Doporučená literatura:
1) B. D. Cullity, Introduction to magnetic materials, Addison-Wesley, London
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
samostatná systematická příprava studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
I. Technologie přípravy tenkých vrstev
1. vakuová technologie
2. metody přípravy tenkých vrstev
3. strukturalní parametry tenkých vrstev
4. metody charakterizace tenkých vrstev
II. Optika tenkých vrstev
5. elektromagnetická teorie šíření světla, jevy na rozhraní
6. maticový popis vrstevnatého prostředí
7. anizotropní a magnetooptické vrstvy
8. jevy částečné koherence, tlusté vrstvy
9. tenkovrstevné filtry, návrhy, aplikace
10. metody měření parametrů tenkých vrstev – reflektivita,
transmise a elipsometrie
III. Magnetické tenké vrstvy
11. magnetická anizotropie tenkých vrstev, hysterezní smyčka
12. magnetické domény a reverzace magnetizace
13. kolmá magnetická anizotropie, výměnné interakce
14. transport spinu, gigantická a tunelová magnetorezistance
15. magnetický a magnetooptický záznam informace
16. tenkovrstevné magnetické senzory
IV. Elektrické vlastnosti tenkých vrstev
17. vodivost tenkých vrstev
18. dielektrické vlastnosti tenkých vrstev
19. transportní jevy, teplotní závislosti
20. aplikace tenkých vrstev v technologiích s ultravysokou integrací
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.