516-0947/01 – Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy (MTP)
| Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 10 |
| Garant předmětu | doc. Ing. Jan Valíček, Ph.D. | Garant verze předmětu | doc. Ing. Jan Valíček, Ph.D. |
| Úroveň studia | postgraduální | Povinnost | volitelný odborný |
| Ročník | | Semestr | zimní + letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2008/2009 | Rok zrušení | 2013/2014 |
| Určeno pro fakulty | FS, FEI, FMT, HGF, FAST | Určeno pro typy studia | doktorské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Seznámit se s principy a přístroji měření topografie povrchu.
Znát vliv technologického procesu na topografii povrchu, který je velmi důležitý pro zvýšení výroby při dodržení požadované jakosti výrobků, což je cílem každé technologie výroby.
Vyučovací metody
Přednášky
Individuální konzultace
Anotace
Základním cílem předmětu je poskytnout základní představu o měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy. Pochopení principů měření topografie povrchu umožní racionálně využít všech možností použití přístrojů a vyvíjených zařízení pro studium topografie povrchu. Znalost vlivu technologického procesu na topografii povrchu je velmi důležitá pro zvýšení výroby při dodržení požadované jakosti výrobků, což je cílem každé technologie výroby. Předmět je orientován na vytváření povrchu, jeho významu u různých technologií, hodnocení topografie povrchu, kontrolu topografie povrchu různými metodami (mechanické, optické a jiné) a soustředění se na bezkontaktní způsoby detekce topografie povrchu.
Povinná literatura:
Doporučená literatura:
1. CHUDÝ, V., PALENČÁR, R., KUREKOVÁ, E., HALAJ, M. Meranie technických
veličín. Bratislava : STU, 1999, 688 s.
2. MAŇKOVÁ, I. Progresívne technológie. Košice : Vienala, 2000. ISBN 80-7099-
430-4.
3. OGILVY, J. A. Theory of waves scattering from random rough surfaces. Bristol,
IOP Publishing Ltd., 1992. 272 s.
ISBN 0-7503-0063-9.
4. THOMAS, T.R. Rough surfaces. London and New York : Longman, 1982, 261 s.
ISBN 0-582-46816-7.
5. TŮMA, J. Zpracování signálů získaných z mechanických systémů užitím FFT.
Praha : Sdělovací technika, 1997, 174 s.
ISBN 80-901936-1-7.
6. VALLIANT, J.G., FOLEY, M.P., BENNETT, J.M. Instrument for on-line
monitoring of surface roughness of machined surfaces. Optical Engineering,
2000, vol. 39, no. 12, p. 3247-3254. ISSN 0091-3286.
7. VASILKO, K. Analytická teória trieskového obrábania. Prešov : Fakulta
výrobných technologií TU v Košiciach, 2007, 338 s. ISBN 987-80-8073-759-7.
8. VASILKO, K., HRUBÝ, J., LIPTÁK, J. Technológia obrábania a montáže.
Bratislava : Alfa, 1991, 496 s.
ISBN 80-05-00807-4.
9. WHITEHOUSE, D. Handbook of Surface Metrology. Rank Taylor Hobson Ltd.
England, 1994.
Další studijní materiály
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Schopnost samostatné orientace v problematice
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. ÚVOD
2. HISTORICKÝ POHLED NA HODNOCENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
3. ZÁKLADNÍ POJMY
4. VYTVÁŘENÍ POVRCHU KONVENČNÍM A NEKONVENČNÍM ZPŮSOBEM
a) Fyzikální podstata vzniku nového povrchu
b) Stanovení teoretické drsnosti obrobku
c) Obrobitelnost materiálů ve vztahu k topografii povrchu
5. TOPOGRAFIE POVRCHU A JEJÍ VÝZNAM
a) Topografie povrchu a její význam v technologických procesech
b) Perspektivy a směry vývoje hodnocení topografie povrchu
c) Topografie povrchu jako ukazatel jakosti
d) Využití metody kvantitativního hodnocení topografie povrchu
e) Značení topografie povrchu na výkresech
6. KONTROLA TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Systém rozdělení metod a přístrojů pro hodnocení a měření topografie
povrchu
b) Kvalitativní hodnocení topografie povrchu
c) Pomůcky pro zvyšování přesností vizuálního posuzování topografie povrchu
d) Spolehlivost kvalitativního posuzování topografie povrchu
e) Nepřímé kvantitativní měření topografie povrchu
f) Dotykové profiloměry s postupnou transformací profilu
g) Připojení mechanicko-elektrických snímačů k elektrické aparatuře
h) Volba základních délek pro měření topografie povrchu
i) Zapisovaní přístroje profilografů
j) Ověřování přesnosti elektrických dotykových profiloměrů
k) Příklady mechanicko-elektrických profiloměrů s různými základními druhy
snímačů
l) Přístroje s okamžitou transformací profilu
m) Použití plastických otisků pro měření topografie povrchu
7. OPTICKÉ METODY MĚŘENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Teoretické principy optických metod a interakce světla s povrchem
b) Metoda vizualizace fázových rozdílů rozostřením
c) Metoda snímání stínového rozložení laserového světla
d) Metoda rozdělení intenzity rozptýleného laserového světla
e) Metoda úhlové korelace polí koherentní zrnitosti
f) Metoda mřížkové projekce
g) Metoda založená na chromatické aberaci čočky
h) Snímání kvality difuzně odrážejících povrchů
8. VYUŽITÍ ULTRAZVUKOVÝCH VLN PRO HODNOCENÍ POVRCHU A ROZHRANÍ
a) Ultrazvukové vlny v izotropním nekonečném prostředí
b) Povrchové akustické vlny
c) Fyzikální a technické aplikace různých typů povrchových akustických vln
9. KVANTITATIVNÍ HODNOCENÍ MIKROGEOMETRIE POVRCHU
a) Základní pojmy kvantitavního/kvalitativního hodnocení topografie povrchu
b) Normalizované charakteristiky topografie povrchu
c) Nenormalizované charakteristiky topografie povrchu
d) Trojrozměrné hodnocení topografie povrchu
e) Realizace statistické a spektrální analýzy profilu povrchu
10. TOPOGRAFIE POVRCHU A FUNKCE PLOCH SOUČÁSTÍ
a) Všeobecně o vlivech na volbu topografie povrchu
b) Vztah topografie a funkce
c) Vztah mezi topografií a rozměrovou tolerancí
11. VÝSTUPNÍ PODNIKOVÉ KONTROLY NA JAKOST POVRCHŮ
Podmínky absolvování předmětu
Podmínky absolvování jsou definovány pouze pro konkrétní verzi předmětu a formu studia
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.