516-0947/02 – Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy (MTP)

Garantující katedraInstitut fyzikyKredity10
Garant předmětudoc. Ing. Jan Valíček, Ph.D.Garant verze předmětudoc. Ing. Jan Valíček, Ph.D.
Úroveň studiapostgraduálníPovinnostpovinně volitelný
RočníkSemestrzimní + letní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2008/2009Rok zrušení
Určeno pro fakultyUSP, HGF, FAST, FMT, FSUrčeno pro typy studiadoktorské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
VAL30 doc. Ing. Jan Valíček, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zkouška 20+0
kombinovaná Zkouška 20+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Seznámit se s principy a přístroji měření topografie povrchu. Znát vliv technologického procesu na topografii povrchu, který je velmi důležitý pro zvýšení výroby při dodržení požadované jakosti výrobků, což je cílem každé technologie výroby.

Vyučovací metody

Přednášky
Individuální konzultace

Anotace

Základním cílem předmětu je poskytnout základní představu o měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy. Pochopení principů měření topografie povrchu umožní racionálně využít všech možností použití přístrojů a vyvíjených zařízení pro studium topografie povrchu. Znalost vlivu technologického procesu na topografii povrchu je velmi důležitá pro zvýšení výroby při dodržení požadované jakosti výrobků, což je cílem každé technologie výroby. Předmět je orientován na vytváření povrchu, jeho významu u různých technologií, hodnocení topografie povrchu, kontrolu topografie povrchu různými metodami (mechanické, optické a jiné) a soustředění se na bezkontaktní způsoby detekce topografie povrchu.

Povinná literatura:

1. BUMBÁLEK, B., ODVODY, V., OŠŤÁDAL, B. Drsnost povrchu. Praha : SNTL, 1989. 2. BÁTORA, B., VASILKO, K. Obrobené povrchy. Technologická dědičnosť, funkčnosť. Trenčín : TU, 2000, 184 s. ISBN 80-88914-19-1. 3. BECKMANN, P., SPIZZICHINO, A. The Scattering of Electromagnetic waves from Rough Surfaces. Oxford : Pergamon, 1963, 503 s. ISBN 63-10-108. 4. BEČKA, J. Tribologie. Praha : ČVUT, 1997, 213 s. ISBN 80-01-01621-8. 5. BEŇO, J., MAŇKOVÁ, I. Technologické a materiálové činitele obrábania. Strojnícka fakulta TU, (kap. 7 Monitorizácia obrábania), Košice, 2004. ISBN-80- 7099-701-X. 6. DUPARRÉ, A., et al. Surface characterization techniques for tetermining the root-mean-square roughness and power spectral densities of optical components. Applied optics, 2002, vol. 41, no. 1, p. 154-171. ISSN 0003-6935. 7. CHIFFRE, L., et al. Quantitative characterisation of surface texture. CIRP Annals - Manufacturing Technology, 2000, vol. 49, no. 2, p. 635-652. ISSN 0007-8506.

Doporučená literatura:

1. CHUDÝ, V., PALENČÁR, R., KUREKOVÁ, E., HALAJ, M. Meranie technických veličín. Bratislava : STU, 1999, 688 s. 2. MAŇKOVÁ, I. Progresívne technológie. Košice : Vienala, 2000. ISBN 80-7099- 430-4. 3. OGILVY, J. A. Theory of waves scattering from random rough surfaces. Bristol, IOP Publishing Ltd., 1992. 272 s. ISBN 0-7503-0063-9. 4. THOMAS, T.R. Rough surfaces. London and New York : Longman, 1982, 261 s. ISBN 0-582-46816-7. 5. TŮMA, J. Zpracování signálů získaných z mechanických systémů užitím FFT. Praha : Sdělovací technika, 1997, 174 s. ISBN 80-901936-1-7. 6. VALLIANT, J.G., FOLEY, M.P., BENNETT, J.M. Instrument for on-line monitoring of surface roughness of machined surfaces. Optical Engineering, 2000, vol. 39, no. 12, p. 3247-3254. ISSN 0091-3286. 7. VASILKO, K. Analytická teória trieskového obrábania. Prešov : Fakulta výrobných technologií TU v Košiciach, 2007, 338 s. ISBN 987-80-8073-759-7. 8. VASILKO, K., HRUBÝ, J., LIPTÁK, J. Technológia obrábania a montáže. Bratislava : Alfa, 1991, 496 s. ISBN 80-05-00807-4. 9. WHITEHOUSE, D. Handbook of Surface Metrology. Rank Taylor Hobson Ltd. England, 1994.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

samostatná systematická příprava studenta

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

1. ÚVOD 2. HISTORICKÝ POHLED NA HODNOCENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU 3. ZÁKLADNÍ POJMY 4. VYTVÁŘENÍ POVRCHU KONVENČNÍM A NEKONVENČNÍM ZPŮSOBEM a) Fyzikální podstata vzniku nového povrchu b) Stanovení teoretické drsnosti obrobku c) Obrobitelnost materiálů ve vztahu k topografii povrchu 5. TOPOGRAFIE POVRCHU A JEJÍ VÝZNAM a) Topografie povrchu a její význam v technologických procesech b) Perspektivy a směry vývoje hodnocení topografie povrchu c) Topografie povrchu jako ukazatel jakosti d) Využití metody kvantitativního hodnocení topografie povrchu e) Značení topografie povrchu na výkresech 6. KONTROLA TOPOGRAFIE POVRCHU a) Systém rozdělení metod a přístrojů pro hodnocení a měření topografie povrchu b) Kvalitativní hodnocení topografie povrchu c) Pomůcky pro zvyšování přesností vizuálního posuzování topografie povrchu d) Spolehlivost kvalitativního posuzování topografie povrchu e) Nepřímé kvantitativní měření topografie povrchu f) Dotykové profiloměry s postupnou transformací profilu g) Připojení mechanicko-elektrických snímačů k elektrické aparatuře h) Volba základních délek pro měření topografie povrchu i) Zapisovaní přístroje profilografů j) Ověřování přesnosti elektrických dotykových profiloměrů k) Příklady mechanicko-elektrických profiloměrů s různými základními druhy snímačů l) Přístroje s okamžitou transformací profilu m) Použití plastických otisků pro měření topografie povrchu 7. OPTICKÉ METODY MĚŘENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU a) Teoretické principy optických metod a interakce světla s povrchem b) Metoda vizualizace fázových rozdílů rozostřením c) Metoda snímání stínového rozložení laserového světla d) Metoda rozdělení intenzity rozptýleného laserového světla e) Metoda úhlové korelace polí koherentní zrnitosti f) Metoda mřížkové projekce g) Metoda založená na chromatické aberaci čočky h) Snímání kvality difuzně odrážejících povrchů 8. VYUŽITÍ ULTRAZVUKOVÝCH VLN PRO HODNOCENÍ POVRCHU A ROZHRANÍ a) Ultrazvukové vlny v izotropním nekonečném prostředí b) Povrchové akustické vlny c) Fyzikální a technické aplikace různých typů povrchových akustických vln 9. KVANTITATIVNÍ HODNOCENÍ MIKROGEOMETRIE POVRCHU a) Základní pojmy kvantitavního/kvalitativního hodnocení topografie povrchu b) Normalizované charakteristiky topografie povrchu c) Nenormalizované charakteristiky topografie povrchu d) Trojrozměrné hodnocení topografie povrchu e) Realizace statistické a spektrální analýzy profilu povrchu 10. TOPOGRAFIE POVRCHU A FUNKCE PLOCH SOUČÁSTÍ a) Všeobecně o vlivech na volbu topografie povrchu b) Vztah topografie a funkce c) Vztah mezi topografií a rozměrovou tolerancí 11. VÝSTUPNÍ PODNIKOVÉ KONTROLY NA JAKOST POVRCHŮ

Podmínky absolvování předmětu

Kombinovaná forma (platnost od: 2008/2009 zimní semestr, platnost do: 2012/2013 letní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zkouška Zkouška  
Rozsah povinné účasti:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2015/2016 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2015/2016 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2014/2015 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2014/2015 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2013/2014 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2013/2014 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2012/2013 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2012/2013 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2011/2012 (P1701) Fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2011/2012 (P1701) Fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2010/2011 (P2102) Nerostné suroviny (3902V010) Automatizace technologických procesů P čeština Ostrava volitelný odborný stu. plán
2010/2011 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava volitelný odborný stu. plán
2010/2011 (P2102) Nerostné suroviny (3902V010) Automatizace technologických procesů K čeština Ostrava volitelný odborný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku