516-8809/01 – Metody analýzy materiálů (MAM)
Garantující katedra | Institut fyziky | Kredity | 6 |
Garant předmětu | Mgr. Jaroslav Hamrle, Ph.D. | Garant verze předmětu | Mgr. Jaroslav Hamrle, Ph.D. |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
Ročník | 1 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2013/2014 | Rok zrušení | 2015/2016 |
Určeno pro fakulty | HGF | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Předmět vychází z úvodu do elektronové struktury pevných látek. Předmět dále představuje vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně difrakční, spektroskopické a magneto-optické diagnostické metody, časově rozlišitelné metody a nukleární spektroskopické metody (Moesbauerova spektroskopie).
Obsahové zaměření:
* Základy elektronové struktury pevných látek, elektron v periodickém potenciálu, pásová struktura, elektronové hladiny, přechody elektronů.
* Difrakce (X-ray difrakce, elektronová difrakce, neutronová difrakce).
* Spektroskopie (foton-foton, elektron-foton a elektron-elektron spektroskopie).
* Charakterizace elektrických, optických, a magnetických vlastností látek.
* Magneto-optický jev a jeho aplikace.
* Příklady časově-rozlišitelných měření. Stroboskopické (pump-probe) techniky.
* Rezonanční techniky.
* Nukleární spektroskopie (energetické hladiny v jádře, Moessbauerova spektroskopie).
Vyučovací metody
Přednášky
Anotace
Povinná literatura:
1. Principles of Condensed Matter Physics, P.M. Chaikin, T. C. Lubensky, Cambridge Press, (2000).
2. Solid State Physics, N. Ashcroft, N. Mermin, Cengage Learning (1976).
3. J. Stohr, H.C. Siegmann, Magnetism: from Fundamentals to Nanoscale Dynamics, Springer (2006).
Doporučená literatura:
Akhlesh Lakhtakia: The Handbook of Nanotechnology. Nanometer Structures: Theory, Modeling, and Simulation, ISBN: 0-8194-5186-X (2004); Todd Steiner: Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Applications, ISBN: 1-58053-751-0 (2004); Robert Kelsall (Editor), Ian W. Hamley (Editor), Mark Geoghegan (Editor): Nanoscale Science and Technology, ISBN: 0-470-85086-8 (2005). Michael Rieth, Wolfram Schommers: Handbook of Theoretical and Computational Nanotechnology, 10-Volume Set, ASP-American Scientific Publishers, ISBN: 1-58883-042-X (2005).
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
nejsou zádné speciální požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Předmět vychází z úvodu do elektronové struktury pevných látek. Předmět dále představuje vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně difrakční, spektroskopické a magneto-optické diagnostické metody, časově rozlišitelné metody a nukleární spektroskopické metody (Moesbauerova spektroskopie).
Obsahové zaměření:
* Základy elektronové struktury pevných látek, elektron v periodickém potenciálu, pásová struktura, elektronové hladiny, přechody elektronů.
* Difrakce (X-ray difrakce, elektronová difrakce, neutronová difrakce).
* Spektroskopie (foton-foton, elektron-foton a elektron-elektron spektroskopie).
* Charakterizace elektrických, optických, a magnetických vlastností látek.
* Magneto-optický jev a jeho aplikace.
* Příklady časově-rozlišitelných měření. Stroboskopické (pump-probe) techniky. * Rezonanční techniky.
* Nukleární spektroskopie (energetické hladiny v jádře, Moessbauerova spektroskopie).
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky