636-0069/01 – Difrakční analýza materiálů (DAM)
Garantující katedra | Katedra materiálového inženýrství | Kredity | 0 |
Garant předmětu | prof. RNDr. Jaroslav Fiala, CSc. | Garant verze předmětu | Fiktivní Uživatel |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
Ročník | 5 | Semestr | zimní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 1997/1998 | Rok zrušení | 2000/2001 |
Určeno pro fakulty | | Určeno pro typy studia | |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Vyučovací metody
Anotace
Principy difrakce rtg záření tuhými látkami, příslušná experimentální technika
a působy vyhodnocování. Reciproká mřížka, Ewaldova konstrukce. Výpočet
intensity difraktovaného záření, rozšíření a azimutální profil difrakčních
linií. Využití rtg difrakce pro identifikaci fázového složení, kvantitativní
fázovou analýzu, určování velikosti částic, pnutí 1., 2. a 3. druhu a
přednostní orientace.
Povinná literatura:
1. I. KRAUS: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha 1985, 235 s.
2. Z. JOHAN, R. ROTTER, E.SLÁNSKÝ: Analýza látek rentgenovými paprsky, SNTL,
Praha 1970, 258 s.
3. C. S. BARRETT: Struktura kovů, NČSAV, Praha 1959, 658 s.
4. V.VALVODA, M. POLCAROVÁ, P. LUKÁČ: Základy strukturní analýzy, Univerzita
Karlova, Praha 1992, 489 s.
5. C. WHISTON: X-ray Methods, John Wiley and Sons, Chichester 1987, 425 s.
Doporučená literatura:
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.