717-3710/03 – Optická spektroskopie (OS)
| Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 4 |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava | Garant verze předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | 2 | Semestr | zimní |
| | Jazyk výuky | angličtina |
| Rok zavedení | 2016/2017 | Rok zrušení | 2019/2020 |
| Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Cílem předmětu je seznámit studenty se spektroskopickými metodami, které se používají ke studiu objemových materiálů, tenkých vrstev a periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na metody optické spektroskopie, spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopické elipsometrie.
Vyučovací metody
Přednášky
Anotace
Obsahové zaměření:
Fyzikální principy optické spektroskopie - elektronové přechody a původ spektrálních závislostí optických parametrů, Kramers-Kronigovy disperzní relace.
Modelování šíření světla ve spektroskopických metodách, maticové formalismy.
Specifika optické spektroskopie nanostruktur - metody efektivních prostředí a jejich využití na modelování optických funkcí nanostrukturovaných, nanokompozitních a porézních materiálů.
Konstrukce a součásti spektroskopů, elipsometrů - zdroj disperzni prvky, detektory, polarizační optika.
Metody zpracování a fitování spektroskopických dat.
Reflexní a transmisní spektroskopie ve viditelné, blízké ultrafialové a blízké infračervené oblasti, spektroskopická elipsometrie, FTIR spektroskopie ve střední a daleké infračervené oblasti, magnetooptická spektroskopická elipsometrie.
Moderní metody a směry spektroskopie.
Povinná literatura:
FOX, M., Optical properties of solids, Oxford Univ. Press, 2003.
HOLLAS, J. M., Modern Spectroscopy (4th ed.), John Willey & Sons, 2009.
Doporučená literatura:
SVANBERG, S.: Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991;
STENZEL, O., The physics of thin film optical spectra, Springer, Berlin, 2005;
PALIK, E. D., Handbook of optical constants of solids, Academic Press, New York, 1998;
OHLÍDAL, I., FRANTA, D.: Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000;
ZVEZDIN, A. K., KOTOV, V. A.: Modern magnetooptics and magnetooptical materials, IOP, Bristol 1977;
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Předmět je zakončen zkouškou. Studenti zvládnou spektroskopickými metodami, které se používají ke studiu objemových materiálů, tenkých vrstev a periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na metody optické spektroskopie, spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopické elipsometrie.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Fyzikální principy optické spektroskopie - elektronové přechody a původ spektrálních závislostí optických parametrů, Kramers-Kronigovy disperzní relace.
Modelování šíření světla ve spektroskopických metodách, maticové formalismy.
Specifika optické spektroskopie nanostruktur - metody efektivních prostředí a jejich využití na modelování optických funkcí nanostrukturovaných, nanokompozitních a porézních materiálů.
Konstrukce a součásti spektroskopů, elipsometrů - zdroj disperzni prvky, detektory, polarizační optika.
Metody zpracování a fitování spektroskopických dat.
Reflexní a transmisní spektroskopie ve viditelné, blízké ultrafialové a blízké infračervené oblasti, spektroskopická elipsometrie, FTIR spektroskopie ve střední a daleké infračervené oblasti, magnetooptická spektroskopická elipsometrie.
Moderní metody a směry spektroskopie.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.