717-3729/01 – Metody analýzy materiálů (MAM)
| Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 6 |
| Garant předmětu | prof. Ing. Ondřej Životský, Ph.D. | Garant verze předmětu | prof. Ing. Ondřej Životský, Ph.D. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | 1 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2016/2017 | Rok zrušení | 2017/2018 |
| Určeno pro fakulty | HGF, USP | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Úkolem předmětu je představit vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně se jedná o difrakční (rentgenová difrakce), mikroskopické (skenovací a transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních a magnetických sil), magnetické (vibrační magnetometrie), magneto-optické a nukleární spektroskopické (Mossbauerova spektroskopie) metody.
Vyučovací metody
Přednášky
Anotace
Povinná literatura:
1. Principles of Condensed Matter Physics, P.M. Chaikin, T. C. Lubensky, Cambridge Press, (2000).
2. Solid State Physics, N. Ashcroft, N. Mermin, Cengage Learning (1976).
3. J. Stohr, H.C. Siegmann, Magnetism: from Fundamentals to Nanoscale Dynamics, Springer (2006).
Doporučená literatura:
Akhlesh Lakhtakia: The Handbook of Nanotechnology. Nanometer Structures: Theory, Modeling, and Simulation, ISBN: 0-8194-5186-X (2004); Todd Steiner: Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Applications, ISBN: 1-58053-751-0 (2004); Robert Kelsall (Editor), Ian W. Hamley (Editor), Mark Geoghegan (Editor): Nanoscale Science and Technology, ISBN: 0-470-85086-8 (2005). Michael Rieth, Wolfram Schommers: Handbook of Theoretical and Computational Nanotechnology, 10-Volume Set, ASP-American Scientific Publishers, ISBN: 1-58883-042-X (2005).
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
nejsou zádné speciální požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Úkolem předmětu je představit vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně se jedná o difrakční (rentgenová difrakce), mikroskopické (skenovací a transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních a magnetických sil), magnetické (vibrační magnetometrie), magneto-optické a nukleární spektroskopické (Mossbauerova spektroskopie) metody.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky