717-3746/01 – Optická a magnetická defektoskopie (OMD)
| Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 6 |
| Garant předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. | Garant verze předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | 2 | Semestr | zimní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2016/2017 | Rok zrušení | 2017/2018 |
| Určeno pro fakulty | USP, HGF | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Seznámit se na sérii laboratorních měření a teorie k nim s obecnými postupy použití optické diagnostiky.
Vyučovací metody
Přednášky
Cvičení (v učebně)
Experimentální práce v laboratoři
Anotace
Předmět navazuje na znalosti studenta z matematiky, fyziky a materiálů. Předmět je postaven na sérii laboratorních měření a teorii k nim a rozvíjí poznatky získané v předchozím studiu.
Povinná literatura:
Engst, P., Horák, M.: Aplikace laserů, SNTL, Praha 1989;
Sochor,V.: Lasery a koherentní svazky, Academia, Praha 1990;
Hariharan, P.: Optical Interferometry, Academic Press, New York 1985.
Doporučená literatura:
Balaš, J., Szabó,V.: Holografická interferometria v experimentalnej mechanike, Veda, Bratislava 1986.
Pluta, M.: Advanced Light Microscopy. PWN, Warszava 1988.
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
Zpracování protokolů měření.
E-learning
Není k dispozici.
Další požadavky na studenta
Předpokládá se soustavná práce studenta magisterského studia.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. Defektoskopie izotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
2. Defektoskopie anizotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
3. Defektoskopie tenkých vrstev a struktur metodou reflektometrie, polarimetrie a interferometrie (měření tloušťky, popř. geometrie struktury).
4. Defektoskopie tenkých vrstev metodou optické mikroskopie.
5. Defektoskopie optických vláken metodami optické interferometrie.
6. Fyzikální úvod do magnetické defektoskopie.
7. Magnetická defektoskopie ocelových lan a trubek (zjišťování stavu lan) metodou rozptylových toků.
8. Magnetická defektoskopie s pomocí vířivých proudů.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky