717-3910/01 – Spektroskopie nanostruktur (SN)
Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 3 |
Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava | Garant verze předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
Ročník | 1 | Semestr | zimní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2016/2017 | Rok zrušení | 2019/2020 |
Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Popsat spektroskopické metody které se používají ke studiu nanostruktur, tenkých vrstev a nanostrukturovaných periodických a kompozitních materiálů
Analyzovat metody optické spektroskopie, infračervené spektroskopie, optické a magnetooptické spektroskopické elipsometrie.
Vyučovací metody
Přednášky
Anotace
Cílem předmětu je seznámit studenty se spektroskopickými metodami, které se
používají ke studiu nanostruktur, tenkých vrstev a nanostrukturovaných
periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na metody optické
spektroskopie, spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopické
elipsometrie.
Povinná literatura:
HOLLAS, J. M., Modern Spectroscopy (4th ed.), John Willey & Sons, 2009.
FOX, M., Optical properties of solids, Oxford Univ. Press, 2003.
SVANBERG, S.: Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical
applications, Springer-Verlag, Berlin 1991;
STENZEL, O., The physics of thin film optical spectra, Springer, Berlin, 2005;
Doporučená literatura:
PALIK, E. D., Handbook of optical constants of solids, Academic Press, New
York, 1998;
OHLÍDAL, I., FRANTA, D.: Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in
Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000;
ZVEZDIN, A. K., KOTOV, V. A.: Modern magnetooptics and magnetooptical
materials, IOP, Bristol 1977;
Další studijní materiály
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Obsahové zaměření:
- Fyzikální principy optické spektroskopie - elektronové přechody a původ
spektrálních závislostí optických parametrů, Kramers-Kronigovy disperzní
relace.
- Modelování šíření světla ve spektroskopických metodách, maticové formalismy.
- Specifika optické spektroskopie nanostruktur - metody efektivních prostředí
a jejich využití na modelování optických funkcí nanostrukturovaných,
nanokompozitních a porézních materiálů.
- Konstrukce a součásti spektroskopů, elipsometrů a spektrálních
interferometrů.
- Metody zpracování a fitování spektroskopických dat.
- Reflexní a transmisní spektroskopie ve viditelné, blízké ultrafialové
a blízké infračervené oblasti, spektroskopická elipsometrie, FTIR
spektroskopie ve střední infračervené oblasti, magnetooptická
spektroskopická elipsometrie.
- Moderní metody a směry spektroskopie
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.