717-9019/01 – Optické diagnostické metody (ODM)
Garantující katedra | Katedra fyziky | Kredity | 10 |
Garant předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. | Garant verze předmětu | prof. RNDr. Petr Hlubina, CSc. |
Úroveň studia | postgraduální | Povinnost | povinně volitelný |
Ročník | | Semestr | zimní + letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2016/2017 | Rok zrušení | 2018/2019 |
Určeno pro fakulty | USP, FEI, HGF | Určeno pro typy studia | doktorské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Shrnout základy optických diagnostických metod
Popsat, objasnit a interpretovat nejnovější poznatky v této výzkumné oblasti
Aplikovat moderní postupy při řešení problémů praxe
Vyučovací metody
Přednášky
Individuální konzultace
Anotace
V rámci předmětu Optické diagnostické metody, který se řadí k fakultativním předmětům doktorského studijního programu Aplikovaná fyzika, budou studenti systematicky seznamováni s vybranými optickými diagnostickými metodami různých vlnovodných prostředí a struktur tenkých vrstev.
Povinná literatura:
Hariharan, P.: Optical Interferometry. Academic Press, New York, 1985.
Mandel, L. - Wolf, E.: Optical Coherence and Quantum Optics. Cambridge University Press, Cambridge, 1995.
Born, M. – Wolf, E.: Principles of Optics. Cambridge University Press, Cambridge, 1998.
Snyder, A. – Love, J.: Optical Waveguide Theory. London: Chapman and Hall 1983.
Marcuse, D.: Principles of Optical Fibre Measurements, Academic Press, New York 1981.
Doporučená literatura:
Leach, R.: Optical Measurement of Surface Topography, Springer, Berlin 2011.
Další studijní materiály
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Předpokládá se soustavná a samostatná práce studenta doktorského studia.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. Měření indexu lomu izotropních a anizotropních prostředí
1.1. Index lomu jako charakteristika prostředí. Fázový a skupinový index lomu, chromatická disperze.
1.2. Kramers-Kroningovy dispezní relace. Semiempirické disperzní relace (Sellmeier, Cauchy, atd.).
1.3. Metody měření fázového a skupinového indexu lomu. Fraunhofferova metoda, reflektometrické metody, interferometrické metody, elipsometrické metody.
1.4. Totální refraktometry (ponorný, Abbéův). Michelsonův, Machův-Zehnderův a Rayleighův interferometr. Spektrální elipsometr. Vláknové refraktometry.
2. Měření disperze fotonických krystalových vláken
2.1. Materiálová disperze, vlnovodná a chromatická disperze. Polarizační vidová disperze, fázový a skupinový dvojlom.
2.2. Teorie šíření elektromagnetických vln ve fotonických krystalových vláknech. Vidy a disperzní relace vidů.
2.3. Metody měření disperze fotonických krystalových vláken. Metoda měření v časové oblasti (time of flight), fázová metoda, interferometrické metody.
2.4. Spektrální interferometrie v bílém světle. Michelsonův interferometr (měření skupinového dvojlomu). Machův-Zehnderův interferometr (měření skupinové a chromatické disperze). Spektrální metoda měření fázového dvojlomu. Polarimetrické měření fázového a skupinového dvojlomu.
3. Optická reflektometrie a elipsometrie
3.1. Fresnelovy vztahy. Komplexní koeficienty odrazivosti a propustnosti. Výkonová odrazivost a propustnost. Elipsometrické parametry.
3.2. Odraz elektromagnetické vlny od tenké vrstvy a multivrstvy. Interferometrické, reflektometrické a elipsometrické určování parametrů tenké vrstvy.
3.3. Metody měření při kolmém dopadu: spektrální interferometrie a reflektometrie.
3.3. Metody měření při obecném úhlu dopadu: spektrální reflektometrie a elipsometrie.
3.4. Komerční optické interferometry, reflektometry, elipsometry.
4. Optická profilometrie
4.1. Nízkokoherenčí optická profilometrie. Spektrální profilometrie a profilometrie se zdrojem světla o spojitě proměnné vlnové délce.
4.2. Komerční optické profilometry.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.