717-9019/01 – Optické diagnostické metody (ODM)

Garantující katedraKatedra fyzikyKredity10
Garant předmětudoc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.Garant verze předmětudoc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.
Úroveň studiapostgraduálníPovinnostpovinně volitelný
RočníkSemestrzimní + letní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2016/2017Rok zrušení2018/2019
Určeno pro fakultyUSP, FEI, HGFUrčeno pro typy studiadoktorské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
HLU03 doc. RNDr. Petr Hlubina, CSc.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zkouška 20+0
kombinovaná Zkouška 20+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Shrnout základy optických diagnostických metod Popsat, objasnit a interpretovat nejnovější poznatky v této výzkumné oblasti Aplikovat moderní postupy při řešení problémů praxe

Vyučovací metody

Přednášky
Individuální konzultace

Anotace

V rámci předmětu Optické diagnostické metody, který se řadí k fakultativním předmětům doktorského studijního programu Aplikovaná fyzika, budou studenti systematicky seznamováni s vybranými optickými diagnostickými metodami různých vlnovodných prostředí a struktur tenkých vrstev.

Povinná literatura:

Hariharan, P.: Optical Interferometry. Academic Press, New York, 1985. Mandel, L. - Wolf, E.: Optical Coherence and Quantum Optics. Cambridge University Press, Cambridge, 1995. Born, M. – Wolf, E.: Principles of Optics. Cambridge University Press, Cambridge, 1998. Snyder, A. – Love, J.: Optical Waveguide Theory. London: Chapman and Hall 1983. Marcuse, D.: Principles of Optical Fibre Measurements, Academic Press, New York 1981.

Doporučená literatura:

Leach, R.: Optical Measurement of Surface Topography, Springer, Berlin 2011.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Předpokládá se soustavná a samostatná práce studenta doktorského studia.

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

1. Měření indexu lomu izotropních a anizotropních prostředí 1.1. Index lomu jako charakteristika prostředí. Fázový a skupinový index lomu, chromatická disperze. 1.2. Kramers-Kroningovy dispezní relace. Semiempirické disperzní relace (Sellmeier, Cauchy, atd.). 1.3. Metody měření fázového a skupinového indexu lomu. Fraunhofferova metoda, reflektometrické metody, interferometrické metody, elipsometrické metody. 1.4. Totální refraktometry (ponorný, Abbéův). Michelsonův, Machův-Zehnderův a Rayleighův interferometr. Spektrální elipsometr. Vláknové refraktometry. 2. Měření disperze fotonických krystalových vláken 2.1. Materiálová disperze, vlnovodná a chromatická disperze. Polarizační vidová disperze, fázový a skupinový dvojlom. 2.2. Teorie šíření elektromagnetických vln ve fotonických krystalových vláknech. Vidy a disperzní relace vidů. 2.3. Metody měření disperze fotonických krystalových vláken. Metoda měření v časové oblasti (time of flight), fázová metoda, interferometrické metody. 2.4. Spektrální interferometrie v bílém světle. Michelsonův interferometr (měření skupinového dvojlomu). Machův-Zehnderův interferometr (měření skupinové a chromatické disperze). Spektrální metoda měření fázového dvojlomu. Polarimetrické měření fázového a skupinového dvojlomu. 3. Optická reflektometrie a elipsometrie 3.1. Fresnelovy vztahy. Komplexní koeficienty odrazivosti a propustnosti. Výkonová odrazivost a propustnost. Elipsometrické parametry. 3.2. Odraz elektromagnetické vlny od tenké vrstvy a multivrstvy. Interferometrické, reflektometrické a elipsometrické určování parametrů tenké vrstvy. 3.3. Metody měření při kolmém dopadu: spektrální interferometrie a reflektometrie. 3.3. Metody měření při obecném úhlu dopadu: spektrální reflektometrie a elipsometrie. 3.4. Komerční optické interferometry, reflektometry, elipsometry. 4. Optická profilometrie 4.1. Nízkokoherenčí optická profilometrie. Spektrální profilometrie a profilometrie se zdrojem světla o spojitě proměnné vlnové délce. 4.2. Komerční optické profilometry.

Podmínky absolvování předmětu

Kombinovaná forma (platnost od: 2016/2017 zimní semestr, platnost do: 2018/2019 letní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zkouška Zkouška  
Rozsah povinné účasti:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2018/2019 (P3942) Nanotechnologie (3942V001) Nanotechnologie K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P3942) Nanotechnologie (3942V001) Nanotechnologie P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P3942) Nanotechnologie (3942V001) Nanotechnologie K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P3942) Nanotechnologie K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2017/2018 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P3942) Nanotechnologie (3942V001) Nanotechnologie P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P3942) Nanotechnologie (3942V001) Nanotechnologie K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika P čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán
2016/2017 (P1701) Fyzika (1702V001) Aplikovaná fyzika K čeština Ostrava povinně volitelný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku