730-0011/01 – Rentgenová difrakční analýza ()
| Garantující katedra | Centrum nanotechnologií | Kredity | 6 |
| Garant předmětu | prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc. | Garant verze předmětu | prof. Milan Rieder, Ph.D. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
| Ročník | 4 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 1999/2000 | Rok zrušení | 2009/2010 |
| Určeno pro fakulty | FMT | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Vyučovací metody
Anotace
Obsah předmětu je zaměřen především ba detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analyzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů: Krystal, krystalová struktura, krystalová
mřížka, symetrie uspořádání struktur, atomová struktura krystalů, rentgenové
záření, teorie difrakce, rentgenografické difrakční metody, kvalitativní a
kvantitativní analýza, určování mřížkových parametrů, vliv neuspořádanosti
struktury a velikosti krystalů na difrakční obraz, praktické aplikace analýzy
materiálů uvedenými metodami.
Povinná literatura:
Literatura:
Kraus I.: Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha, 1993
Kraus I.: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1995
Valvoda V., Polcarová M., Lukáč P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK
Praha, 1992
Chojnacki J.: Základy chemické a fyzikální krystalografie, Academia, 1979
Doporučená literatura:
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Obsah přednášek:
Obsah předmětu je zaměřen především na detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analýzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů:
1. Krystal, krystalová struktura, krystalová mřížka.
2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy).
3. Atomová struktura krystalů.
4. Rentgenové záření a teorie difrakce.
5. Rentgenografické difrakční metody.
6. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza.
7. Indexace a určování mřížkových parametrů.
8. Vliv neuspořádanosti struktury a velikosti krystalitů na difrakční
obraz.
9. Analýza materiálů rtg. difrakcí - vybrané aplikace.
Základní studijní literatura:
I. Kraus: Struktura a vlastnosti krystalů. Academia, Praha, 1993.
I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1985.
V. Valvoda, M. Polcarová, P.Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum,
UK Praha, 1992.
J. Chojnacki: Základy chemické a fyzikální krystalografie. Academia, 1979.
Cvičení:
1. Určování operací symetrie, prvků symetrie a rovinných grup symetrie na
dvojrozměrně periodických obrazech struktur.
2. Zobrazování trojrozměrných krystalových struktur programem MOLDRAW.
Porovnání meziatomárních vzdáleností u vybraných látek.
3. Výpočet krystalochemického vzorce z chemické analýzy.
4. Měření na práškovém difraktometru INEL. Příprava vzorku, seznámení se
systémem, pořízení difraktogramu, základní vyhodnocení.
5. Kvalitativní fázová difrakční analýza s použitím vybraných záznamů
standardních látek z databáze PDF ICDD.
6. Kvalitativní fázová difrakční analýza pomocí vyhledávacího
počítačového
systému a databáze PDF ICDD.
7. Kvantitativní fázová difrakční analýza metodou vnitřního standardu.
8. Výpočet rtg. difrakčních záznamů s využitím programů DIFK a LAZY
PULVERIX.
9. Přímá (bezstandardní) kvantitativní fázová analýza s využitím programu
XQPA.
10. Indexace a výpočet mřížkových parametrů kubické a tetragonální látky.
11. Určování průměrné lineární velikosti krystalitů.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.