730-0011/02 – Rentgenová difrakční analýza ()

Garantující katedraCentrum nanotechnologiíKredity6
Garant předmětuprof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.Garant verze předmětuprof. Milan Rieder, Ph.D.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinný
Ročník5Semestrletní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení1999/2000Rok zrušení2009/2010
Určeno pro fakultyFMTUrčeno pro typy studiamagisterské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
RIE02 prof. Milan Rieder, Ph.D.
SIM75 doc. Ing. Gražyna Simha Martynková, Ph.D.
KRI37 Ing. Monika Šupová
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zápočet a zkouška 2+3
kombinovaná Zápočet a zkouška 20+10

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Vyučovací metody

Anotace

Obsah předmětu je zaměřen především ba detailnější poznatky o metodách rtg. difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických látkách, které jsou zmíněnými metodami analyzovány. Je rozdělen do následujících tématických okruhů: Krystal, krystalová struktura, krystalová mřížka, symetrie uspořádání struktur, atomová struktura krystalů, rentgenové záření, teorie difrakce, rentgenografické difrakční metody, kvalitativní a kvantitativní analýza, určování mřížkových parametrů, vliv neuspořádanosti struktury a velikosti krystalů na difrakční obraz, praktické aplikace analýzy materiálů uvedenými metodami.

Povinná literatura:

Literatura: Kraus I.: Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha, 1993 Kraus I.: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1995 Valvoda V., Polcarová M., Lukáč P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK Praha, 1992 Chojnacki J.: Základy chemické a fyzikální krystalografie, Academia, 1979

Doporučená literatura:

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

Obsah přednášek: Obsah předmětu je zaměřen především na detailnější poznatky o metodách rtg. difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických látkách, které jsou zmíněnými metodami analýzovány. Je rozdělen do následujících tématických okruhů: 1. Krystal, krystalová struktura, krystalová mřížka. 2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy). 3. Atomová struktura krystalů. 4. Rentgenové záření a teorie difrakce. 5. Rentgenografické difrakční metody. 6. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza. 7. Indexace a určování mřížkových parametrů. 8. Vliv neuspořádanosti struktury a velikosti krystalitů na difrakční obraz. 9. Analýza materiálů rtg. difrakcí - vybrané aplikace. Základní studijní literatura: I. Kraus: Struktura a vlastnosti krystalů. Academia, Praha, 1993. I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1985. V. Valvoda, M. Polcarová, P.Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK Praha, 1992. J. Chojnacki: Základy chemické a fyzikální krystalografie. Academia, 1979. Cvičení: 1. Určování operací symetrie, prvků symetrie a rovinných grup symetrie na dvojrozměrně periodických obrazech struktur. 2. Zobrazování trojrozměrných krystalových struktur programem MOLDRAW. Porovnání meziatomárních vzdáleností u vybraných látek. 3. Výpočet krystalochemického vzorce z chemické analýzy. 4. Měření na práškovém difraktometru INEL. Příprava vzorku, seznámení se systémem, pořízení difraktogramu, základní vyhodnocení. 5. Kvalitativní fázová difrakční analýza s použitím vybraných záznamů standardních látek z databáze PDF ICDD. 6. Kvalitativní fázová difrakční analýza pomocí vyhledávacího počítačového systému a databáze PDF ICDD. 7. Kvantitativní fázová difrakční analýza metodou vnitřního standardu. 8. Výpočet rtg. difrakčních záznamů s využitím programů DIFK a LAZY PULVERIX. 9. Přímá (bezstandardní) kvantitativní fázová analýza s využitím programu XQPA. 10. Indexace a výpočet mřížkových parametrů kubické a tetragonální látky. 11. Určování průměrné lineární velikosti krystalitů.

Podmínky absolvování předmětu

Kombinovaná forma (platnost od: 1960/1961 letní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zápočet a zkouška Zápočet a zkouška 100 (100) 51
        Zápočet Zápočet 40 (40) 0
                Laboratorní práce Laboratorní práce 30  0
                Jiný typ úlohy Jiný typ úlohy 10  0
        Zkouška Zkouška 60 (60) 0
                Ústní zkouška Ústní zkouška 60  0
Rozsah povinné účasti:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2007/2008 (M3909) Procesní inženýrství (3911T008) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálu (01) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálů K čeština Ostrava 5 povinný stu. plán
2006/2007 (M3909) Procesní inženýrství (3911T008) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálu (01) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálů K čeština Ostrava 5 povinný stu. plán
2005/2006 (M3909) Procesní inženýrství (3911T008) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálu (01) Chemické a fyzikální metody zkoušení materiálů K čeština Ostrava 5 povinný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku