730-0131/01 – Experimentální metody a nástroje - chemické (EMAN)

Garantující katedraCentrum nanotechnologiíKredity6
Garant předmětudoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.Garant verze předmětudoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinný
Ročník3Semestrzimní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2007/2008Rok zrušení2009/2010
Určeno pro fakultyUSPUrčeno pro typy studiabakalářské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
CAP01 prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.
MAT27 doc. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.
TOM24 doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zápočet a zkouška 3+1

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Seznámit studenty s chemickými metoadmi a nástroji ke sledování struktury nanomateriálů

Vyučovací metody

Anotace

Předmět podává základy metod transmisní i skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou (STM, AFM). Dále budou studenti seznámeni s aplikacemi těchto metod při studiu struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení. Předmět dále dává základy strukturní krystalografie a navazuje difrakčními metodami studia krystalických materiálů.

Povinná literatura:

JONŠTA, Z., VODÁREK, V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ, F., ŘÍMAN, R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ, V., JUREK, K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982; BISH, D.L., POST, J.E., EDS. Modern Powder Diffraction, Reviews in Mineralogy, Volume 20, 1989, Washington, D.C.; BLOSS, F.D.: Crystallography and Crystal Chemistry, Holt, Rinehart and Inc. Winston, 1971; KRAUS, I.. Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, 1993, Praha; KRAUS, I.:Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, 1985, Praha; LOUB, J.: Krystalová struktura, symetrie a rentgenová difrakce, SPN Praha/Univerzita Karlova, 1987; SMRČOK, Ľ., ED. Difrakcia na polykryštalických látkach.- R & D Print, 1994, Bratislava; VALVODA, V., POLCAROVÁ, M., LUKÁČ, P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK, 1992, Praha; YAO, N., WANG, Z., L. (editors) Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1- 4020-8003-4; WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambrid-ge University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; BONNELL, D. editor. Scanning Probe Mi-croscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80- 244-0602-0.

Doporučená literatura:

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

Podmínky absolvování předmětu

Podmínky absolvování jsou definovány pouze pro konkrétní verzi předmětu a formu studia

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.FormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2009/2010 (B3942) Nanotechnologie P čeština Ostrava 3 povinný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku