730-0131/01 – Experimentální metody a nástroje - chemické (EMAN)

Garantující katedra	Centrum nanotechnologií	Kredity	6
Garant předmětu	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.	Garant verze předmětu	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Úroveň studia	pregraduální nebo graduální	Povinnost	povinný
Ročník	3	Semestr	zimní
		Jazyk výuky	čeština
Rok zavedení	2007/2008	Rok zrušení	2009/2010
Určeno pro fakulty	USP	Určeno pro typy studia	bakalářské

Výuku zajišťuje
Os. čís.	Jméno	Cvičící	Přednášející
CAP01	prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.
MAT27	doc. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.
TOM24	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Rozsah výuky pro formy studia
Forma studia	Zp.zak.	Rozsah
prezenční	Zápočet a zkouška	3+1

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Seznámit studenty s chemickými metoadmi a nástroji ke sledování struktury nanomateriálů

Vyučovací metody

Anotace

Předmět podává základy metod transmisní i skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou (STM, AFM). Dále budou studenti seznámeni s aplikacemi těchto metod při studiu struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení. Předmět dále dává základy strukturní krystalografie a navazuje difrakčními metodami studia krystalických materiálů.

Povinná literatura:

JONŠTA, Z., VODÁREK, V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ, F., ŘÍMAN, R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ, V., JUREK, K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982; BISH, D.L., POST, J.E., EDS. Modern Powder Diffraction, Reviews in Mineralogy, Volume 20, 1989, Washington, D.C.; BLOSS, F.D.: Crystallography and Crystal Chemistry, Holt, Rinehart and Inc. Winston, 1971; KRAUS, I.. Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, 1993, Praha; KRAUS, I.:Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, 1985, Praha; LOUB, J.: Krystalová struktura, symetrie a rentgenová difrakce, SPN Praha/Univerzita Karlova, 1987; SMRČOK, Ľ., ED. Difrakcia na polykryštalických látkach.- R & D Print, 1994, Bratislava; VALVODA, V., POLCAROVÁ, M., LUKÁČ, P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK, 1992, Praha; YAO, N., WANG, Z., L. (editors) Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1- 4020-8003-4; WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambrid-ge University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; BONNELL, D. editor. Scanning Probe Mi-croscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80- 244-0602-0.

Doporučená literatura:

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

Podmínky absolvování předmětu

Podmínky absolvování jsou definovány pouze pro konkrétní verzi předmětu a formu studia

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rok	Program	Obor/spec.	Spec.	Zaměření	Forma	Jazyk výuky	Konz. stř.	Ročník	Z	L	Typ povinnosti
2009/2010	(B3942) Nanotechnologie				P	čeština	Ostrava	3			povinný	stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název bloku	Akademický rok	Forma studia	Jazyk výuky	Ročník	Z	L	Typ bloku	Vlastník bloku

Hodnocení Výuky

Předmět neobsahuje žádné hodnocení.