730-0131/01 – Experimetnal methods and methods (EMAN)

Gurantor departmentNanotechnology centreCredits6
Subject guarantordoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.Subject version guarantordoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Study levelundergraduate or graduateRequirementCompulsory
Year3Semesterwinter
Study languageCzech
Year of introduction2007/2008Year of cancellation2009/2010
Intended for the facultiesUSPIntended for study typesBachelor
Instruction secured by
LoginNameTuitorTeacher giving lectures
CAP01 prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.
MAT27 doc. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.
TOM24 doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Extent of instruction for forms of study
Form of studyWay of compl.Extent
Full-time Credit and Examination 3+1

Subject aims expressed by acquired skills and competences

Seznámit studenty s chemickými metoadmi a nástroji ke sledování struktury nanomateriálů

Teaching methods

Summary

Předmět podává základy metod transmisní i skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou (STM, AFM). Dále budou studenti seznámeni s aplikacemi těchto metod při studiu struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení. Předmět dále dává základy strukturní krystalografie a navazuje difrakčními metodami studia krystalických materiálů.

Compulsory literature:

JONŠTA, Z., VODÁREK, V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ, F., ŘÍMAN, R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ, V., JUREK, K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982; BISH, D.L., POST, J.E., EDS. Modern Powder Diffraction, Reviews in Mineralogy, Volume 20, 1989, Washington, D.C.; BLOSS, F.D.: Crystallography and Crystal Chemistry, Holt, Rinehart and Inc. Winston, 1971; KRAUS, I.. Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, 1993, Praha; KRAUS, I.:Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, 1985, Praha; LOUB, J.: Krystalová struktura, symetrie a rentgenová difrakce, SPN Praha/Univerzita Karlova, 1987; SMRČOK, Ľ., ED. Difrakcia na polykryštalických látkach.- R & D Print, 1994, Bratislava; VALVODA, V., POLCAROVÁ, M., LUKÁČ, P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK, 1992, Praha; YAO, N., WANG, Z., L. (editors) Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1- 4020-8003-4; WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambrid-ge University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; BONNELL, D. editor. Scanning Probe Mi-croscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80- 244-0602-0.

Recommended literature:

Way of continuous check of knowledge in the course of semester

E-learning

Další požadavky na studenta

Prerequisities

Subject has no prerequisities.

Co-requisities

Subject has no co-requisities.

Subject syllabus:

Conditions for subject completion

Conditions for completion are defined only for particular subject version and form of study

Occurrence in study plans

Academic yearProgrammeField of studySpec.ZaměřeníFormStudy language Tut. centreYearWSType of duty
2009/2010 (B3942) Nanotechnology P Czech Ostrava 3 Compulsory study plan

Occurrence in special blocks

Block nameAcademic yearForm of studyStudy language YearWSType of blockBlock owner