730-0131/01 – Experimetnal methods and methods (EMAN)

Gurantor department	Nanotechnology centre	Credits	6
Subject guarantor	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.	Subject version guarantor	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Study level	undergraduate or graduate	Requirement	Compulsory
Year	3	Semester	winter
		Study language	Czech
Year of introduction	2007/2008	Year of cancellation	2009/2010
Intended for the faculties	USP	Intended for study types	Bachelor

Instruction secured by
Login	Name	Tuitor	Teacher giving lectures
CAP01	prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.
MAT27	doc. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.
TOM24	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Extent of instruction for forms of study
Form of study	Way of compl.	Extent
Full-time	Credit and Examination	3+1

Subject aims expressed by acquired skills and competences

Seznámit studenty s chemickými metoadmi a nástroji ke sledování struktury nanomateriálů

Teaching methods

Summary

Předmět podává základy metod transmisní i skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou (STM, AFM). Dále budou studenti seznámeni s aplikacemi těchto metod při studiu struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení. Předmět dále dává základy strukturní krystalografie a navazuje difrakčními metodami studia krystalických materiálů.

Compulsory literature:

JONŠTA, Z., VODÁREK, V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ, F., ŘÍMAN, R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ, V., JUREK, K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982; BISH, D.L., POST, J.E., EDS. Modern Powder Diffraction, Reviews in Mineralogy, Volume 20, 1989, Washington, D.C.; BLOSS, F.D.: Crystallography and Crystal Chemistry, Holt, Rinehart and Inc. Winston, 1971; KRAUS, I.. Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, 1993, Praha; KRAUS, I.:Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, 1985, Praha; LOUB, J.: Krystalová struktura, symetrie a rentgenová difrakce, SPN Praha/Univerzita Karlova, 1987; SMRČOK, Ľ., ED. Difrakcia na polykryštalických látkach.- R & D Print, 1994, Bratislava; VALVODA, V., POLCAROVÁ, M., LUKÁČ, P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK, 1992, Praha; YAO, N., WANG, Z., L. (editors) Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1- 4020-8003-4; WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambrid-ge University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; BONNELL, D. editor. Scanning Probe Mi-croscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80- 244-0602-0.

Recommended literature:

Way of continuous check of knowledge in the course of semester

E-learning

Other requirements

Prerequisities

Subject has no prerequisities.

Co-requisities

Subject has no co-requisities.

Subject syllabus:

Conditions for subject completion

Conditions for completion are defined only for particular subject version and form of study

Occurrence in study plans

Academic year	Programme	Branch/spec.	Spec.	Zaměření	Form	Study language	Tut. centre	Year	W	S	Type of duty
2009/2010	(B3942) Nanotechnology				P	Czech	Ostrava	3			Compulsory	study plan

Occurrence in special blocks

Block name	Academic year	Form of study	Study language	Year	W	S	Type of block	Block owner

Assessment of instruction

Předmět neobsahuje žádné hodnocení.