730-0143/01 – Mikroskopie rastrovací sondou a el. mikroskopie (SPM+EM)

Garantující katedra	Centrum nanotechnologií	Kredity	3
Garant předmětu	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.	Garant verze předmětu	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Úroveň studia	pregraduální nebo graduální	Povinnost	povinný
Ročník	1	Semestr	letní
		Jazyk výuky	čeština
Rok zavedení	2007/2008	Rok zrušení	2009/2010
Určeno pro fakulty	USP	Určeno pro typy studia	navazující magisterské

Výuku zajišťuje
Os. čís.	Jméno	Cvičící	Přednášející
TOM24	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Rozsah výuky pro formy studia
Forma studia	Zp.zak.	Rozsah
prezenční	Zápočet a zkouška	2+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Cílem je rozšířit stávající znalosti studentů v oblasti elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou a jejich použití v oblasti nanomateriálů a nanotechnologií.

Vyučovací metody

Přednášky

Anotace

Obsah předmětu je zaměřen na metody studia struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení v mikro- a nanorozměrech metodami transmisní a skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou. Předmět rozvíjí dosavadní znalosti studentů, a zaměřuje se zejména na aplikace v oblasti nanomateriálů a nanotechnologií.

Povinná literatura:

JONŠTA Z., VODÁREK V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ F., ŘÍMAN R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii,. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ V., JUREK K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982; WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambridge University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; YAO, N., WANG, Z., L. (editors): Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1-4020-8003-4; BONNELL, D. editor: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540- 43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80-244-0602-0.

Doporučená literatura:

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

- Interakce elektronů s hmotou. - Základní typy elektronových mikroskopů. - Princip funkce transmisního elektronového mikroskopu. - Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. - Princip funkce skenovacího elektronového mikroskopu.. - Analytické elektronové mikroskopy. - Interakce iontového svazku s materiálem. - Teoretické základy metod mikroskopie rastrovací sondou. (SPM). - Skenovací tunelovací mikroskopie (STM). - Mikroskopie atomárních sil (AFM). - Ostatní metody SPM.

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 1960/1961 letní semestr, platnost do: 2009/2010 letní semestr)

Název úlohy	Typ úlohy	Max. počet bodů (akt. za podúlohy)	Min. počet bodů	Max. počet pokusů
Zápočet a zkouška	Zápočet a zkouška	100 (145)	51	3
Zkouška	Zkouška	100	0	3
Zápočet	Zápočet	45	0	3

Rozsah povinné účasti:

Zobrazit historii

Podmínky absolvování předmětu a účast na cvičeních v rámci ISP:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rok	Program	Obor/spec.	Forma	Jazyk výuky	Konz. stř.	Ročník	Typ povinnosti
2009/2010	(N3942) Nanotechnologie	(3942T001) Nanotechnologie	P	čeština	Ostrava	1	povinný	stu. plán
2008/2009	(N3942) Nanotechnologie	(3942T001) Nanotechnologie	P	čeština	Ostrava	1	povinný	stu. plán
2007/2008	(N3942) Nanotechnologie	(3942T001) Nanotechnologie	P	čeština	Ostrava	1	povinný	stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název bloku	Akademický rok	Forma studia	Jazyk výuky	Ročník	Z	L	Typ bloku	Vlastník bloku

Hodnocení Výuky

Předmět neobsahuje žádné hodnocení.