730-0144/01 – Laboratorní cvičení z mikroskopie (LCM)
Garantující katedra | Centrum nanotechnologií | Kredity | 3 |
Garant předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. | Garant verze předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
Ročník | 1 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2007/2008 | Rok zrušení | 2009/2010 |
Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Cílem je procvičit metody elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou včetně přípravy vzorků a vyhodnocení výsledků.
Vyučovací metody
Anotace
Předmět navazuje na přednášky z mikroskopie rastrovací sondou a elektronové
mikroskopie. Prakticky budou procvičovány aplikace uvedených metod
(elektronová mikroskopie a elektronová mikroanalýza, AFM) při řešení problémů
chemické, strukturní a fázové analýzy materiálů v mikro- a nano- rozměrech.
Pozornost bude věnována také metodám přípravy vzorků, vyhodnocení získaných
výsledků a jejich interpretaci v nanotechnologiích.
Povinná literatura:
Doporučená literatura:
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. Příprava uhlíkových
replik, extrakčních replik a tenkých kovových fólií. Příprava práškových
vzorků.
- Transmisní elektronová mikroskopie. Zobrazení ve světlém a tmavém poli.
Zobrazení krystalové mřížky a struktury. Studium vybraných kovových,
nekovových a práškových vzorků.
- Příprava vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii. Řezání, broušení,
leštění vzorků, naprašování vrstvou kovu a uhlíku.
- Skenovací elektronová mikroskopie. Zobrazení v režimu sekundárních a
odražených elektronů. Analýza lomových ploch, struktury materiálů a
morfologie práškových materiálů.
- Rentgenová mikroanalýza. Bodová analýza inkluzí v kovových materiálech
a rozdílných fází v kovových i nekovových materiálech. Liniový a plošná
analýza fázových rozhraní a povr-chových vrstev.
- Měření vzorků metodou AFM v kontaktním režimu. Měření povrchů polovodičů
a mikro-vpichů na povrchu oceli.
- Měření vzorků metodou AFM v nekontaktním režimu. Měření částic vybraných
práškových vzorků (fylosilikáty, oxidy).
- Vyhodnocení a úprava dat získaných z AFM. Vyhodnocení pomocí programu
SPMLab. Vyhodnocení a úprava dat pomocí programu Gwyddion.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.