730-0144/01 – Laboratory practice in microscopy (LCM)

Gurantor departmentNanotechnology centreCredits3
Subject guarantordoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.Subject version guarantordoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Study levelundergraduate or graduateRequirementCompulsory
Year1Semestersummer
Study languageCzech
Year of introduction2007/2008Year of cancellation2009/2010
Intended for the facultiesUSPIntended for study typesFollow-up Master
Instruction secured by
LoginNameTuitorTeacher giving lectures
STE17 Ing. Gabriela Kratošová, Ph.D.
TOM24 doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Extent of instruction for forms of study
Form of studyWay of compl.Extent
Full-time Graded credit 0+3

Subject aims expressed by acquired skills and competences

The goal is to practice application of electron mikroscopy and scanning probe microscopy metods including samples preparation and results evaluation.

Teaching methods

Summary

The subject follow up the lectures on scanning probe microscopy and electron microscopy. Applications of the methods (electron microscopy and microanalysis, AFM) will be practise. Problems of chemical, structure and phase analysis of materials in micro- and nano- dimensions will be solved. Attention will be focused on the samples preparation and results evaluation methods.

Compulsory literature:

JONŠTA Z., VODÁREK V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU Ostrava, 1999; JANDOŠ F., ŘÍMAN R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii,. SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ V., JUREK K.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL, Praha, 1982 YAO, N., WANG, Z., L.(editors): Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1-4020-8003-4; BONNELL, D. editor: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80- 244-0602-0. Výukové materiály k laboratorním úlohám budou k dispozici v české a anglické verzi.

Recommended literature:

Way of continuous check of knowledge in the course of semester

E-learning

Other requirements

Prerequisities

Subject has no prerequisities.

Co-requisities

Subject has no co-requisities.

Subject syllabus:

- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. Příprava uhlíkových replik, extrakčních replik a tenkých kovových fólií. Příprava práškových vzorků. - Transmisní elektronová mikroskopie. Zobrazení ve světlém a tmavém poli. Zobrazení krystalové mřížky a struktury. Studium vybraných kovových, nekovových a práškových vzorků. - Příprava vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii. Řezání, broušení, leštění vzorků, naprašování vrstvou kovu a uhlíku. - Skenovací elektronová mikroskopie. Zobrazení v režimu sekundárních a odražených elektronů. Analýza lomových ploch, struktury materiálů a morfologie práškových materiálů. - Rentgenová mikroanalýza. Bodová analýza inkluzí v kovových materiálech a rozdílných fází v kovových i nekovových materiálech. Liniový a plošná analýza fázových rozhraní a povr-chových vrstev. - Měření vzorků metodou AFM v kontaktním režimu. Měření povrchů polovodičů a mikro-vpichů na povrchu oceli. - Měření vzorků metodou AFM v nekontaktním režimu. Měření částic vybraných práškových vzorků (fylosilikáty, oxidy). - Vyhodnocení a úprava dat získaných z AFM. Vyhodnocení pomocí programu SPMLab. Vyhodnocení a úprava dat pomocí programu Gwyddion.

Conditions for subject completion

Full-time form (validity from: 1960/1961 Summer semester, validity until: 2009/2010 Winter semester)
Task nameType of taskMax. number of points
(act. for subtasks)
Min. number of points
Graded exercises evaluation Graded credit 100 (100) 0
        Laboratory work Laboratory work 50  0
        Project Project 30  0
        Other task type Other task type 20  0
Mandatory attendence parzicipation:

Show history

Occurrence in study plans

Academic yearProgrammeField of studySpec.ZaměřeníFormStudy language Tut. centreYearWSType of duty
2009/2010 (N3942) Nanotechnology (3942T001) Nanotechnology P Czech Ostrava 1 Compulsory study plan
2008/2009 (N3942) Nanotechnology (3942T001) Nanotechnology P Czech Ostrava 1 Compulsory study plan
2007/2008 (N3942) Nanotechnology (3942T001) Nanotechnology P Czech Ostrava 1 Compulsory study plan

Occurrence in special blocks

Block nameAcademic yearForm of studyStudy language YearWSType of blockBlock owner