9360-0011/01 – Rentgenová difrakční analýza (RDA)
| Garantující katedra | Centrum nanotechnologií | Kredity | 6 |
| Garant předmětu | doc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D. | Garant verze předmětu | doc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D. |
| Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
| Ročník | 2 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2007/2008 | Rok zrušení | 2018/2019 |
| Určeno pro fakulty | FMT | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Předmět Rentgenová difrakční analýza definuje a popisuje základní pojmy z krystalochemie a rentgenostrukturní analýzy. Absolvováním předmětu získává student přehled o možnostech a aplikacích rentgenové difrakční analýzy jako metody identifikace látek.
Vyučovací metody
Přednášky
Cvičení (v učebně)
Experimentální práce v laboratoři
Anotace
Obsah předmětu je zaměřen především na detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analyzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů: Krystal, krystalová struktura, krystalová
mřížka, symetrie uspořádání struktur, atomová struktura krystalů, rentgenové
záření, teorie difrakce, rentgenografické difrakční metody, kvalitativní a
kvantitativní analýza, určování mřížkových parametrů, vliv neuspořádanosti
struktury a velikosti krystalů na difrakční obraz, praktické aplikace analýzy
materiálů uvedenými metodami.
Povinná literatura:
Doporučená literatura:
Chojnacki J.: Základy chemické a fyzikální krystalografie, Academia, 1979.
Valvoda V., Polcarová M., Lukáč P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK
Praha, 1992.
Kraus I.: Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha, 1993.
Kraus I.: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1995.
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Pro tento předmět nejsou stanoveny další požadavky na studenta.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
Předmět je rozdělen do následujících tematických okruhů:
1. Úvod, historie a základní pojmy (definice krystalu, mřížka, mřížkové parametry, Millerovy indexy, pseudosymetrie, krystalografické soustavy, typy buněk, reciproká mříž).
2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy), maticové reprezentace.
3. Bodová a prostorová symetrie, stereografická projekce, symbolika.
4. Základy krystalochemie, krystalizační procesy, poruchy v krystalech.
5. Rentgenové záření (vlastnosti, zdroje, druhy, interakce záření s látkou).
6. Teorie difrakce (Braggova rovnice, Laueho rovnice, Ewaldova konstrukce), strukturní faktory.
7. Monokrystalové difrakční metody.
8. Práškové difrakční metody.
9. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza.
10. Indexace a určování mřížkových parametrů.
11. Aplikace rentgenostrukturní analýzy (charakterizace připravených vzorků).
Cvičení:
1. Výpočet mezirovinné vzdálenosti d a výpočet mřížkových parametrů.
2. Stanovení velikosti krystalitu.
3. Vyhodnocení oscilačních snímků, indexace.
4. Měření na práškovém difraktometru INEL. Příprava vzorku, seznámení se
systémem, pořízení difraktogramu, základní vyhodnocení.
5. Měření pomocí rentgenového práškového difraktometru Bruker D8 Advance (Bruker AXS). Kvalitativní fázová difrakční analýza, pro identifikaci přítomných fází bude použita databáze PDF-2 Release 2004 (International Centre for Diffraction Data), obsahující 163 835 fází.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky