9360-0140/02 – Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů (STRAN)

Garantující katedraCentrum nanotechnologiíKredity3
Garant předmětudoc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D.Garant verze předmětudoc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinný
Ročník1Semestrzimní
Jazyk výukyangličtina
Rok zavedení2014/2015Rok zrušení2019/2020
Určeno pro fakultyUSPUrčeno pro typy studianavazující magisterské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
MAM02 doc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zkouška 3+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Využití difrakčních metod (RTG, elektronů, neutronů a synchrotr. záření) pro studium struktury a fázového složení nanomateriálů.

Vyučovací metody

Přednášky
Individuální konzultace
Experimentální práce v laboratoři

Anotace

Předmět Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů definuje a popisuje základní pojmy z krystalochemie a rentgenostrukturní analýzy. Absolvováním předmětu získává student přehled o možnostech a aplikacích rentgenové difrakční analýzy jako metody identifikace látek. Předmět dává základy strukturní krystalografie, na které navazují difrakční metody studia krystalických materiálů. Důraz je kladen na pochopení obecných principů difrakce vlnového záření na periodických objektech, tak aby absolvent dokázal porozumět novým technikám vhodným pro výzkum nanomateriálů. Je probrán vliv velikosti částic a pnutí na difrakční jevy, případně vhodnost různých záření pro různé účely.

Povinná literatura:

ČECH BARABASZOVÁ, Karla. Vybrané instrumentální metody analýzy materiálů a nanomateriálů. Brno: Akademické nakladatelství CERM, 2012. ISBN 978-80-7204-810-6. DE GRAEF, Marc a Michael E MCHENRY. Structure of materials: an introduction to crystallography, diffraction and symmetry. 2nd ed., fully rev. and updated. New York: Cambridge University Press, 2012. ISBN 978-1-107-00587-7.

Doporučená literatura:

CHUNG, Frank H a Deane Kingsley SMITH, ed. Industrial applications of X-ray diffraction. New York: Marcel Dekker, c2000. ISBN 0-8247-1992-1.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 2017/2018 zimní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodůMax. počet pokusů
Zkouška Zkouška 100  51 3
Rozsah povinné účasti: Účast na přednáškách. Vypracování prezentace na téma vybrané kapitoly z přednášek.

Zobrazit historii

Podmínky absolvování předmětu a účast na cvičeních v rámci ISP:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2019/2020 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P angličtina Ostrava 1 povinný stu. plán
2018/2019 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P angličtina Ostrava 1 povinný stu. plán
2017/2018 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P angličtina Ostrava 1 povinný stu. plán
2015/2016 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P angličtina Ostrava povinný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku

Hodnocení Výuky

Předmět neobsahuje žádné hodnocení.