9360-0143/02 – Mikroskopie rastrovací sondou a el. mikroskopie (SPM+EM)

Garantující katedraCentrum nanotechnologiíKredity3
Garant předmětudoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.Garant verze předmětudoc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
Úroveň studiapregraduální nebo graduálníPovinnostpovinný
Ročník1Semestrletní
Jazyk výukyčeština
Rok zavedení2013/2014Rok zrušení
Určeno pro fakultyUSPUrčeno pro typy studianavazující magisterské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
STE17 Ing. Gabriela Kratošová, Ph.D.
MAT27 doc. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.
TOM24 doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.
VAC121 Ing. Miroslav Vaculík, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zkouška 2+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Cílem je rozšířit stávající znalosti studentů v oblasti elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou a jejich použití v oblasti nanomateriálů a nanotechnologií.

Vyučovací metody

Přednášky

Anotace

Obsah předmětu je zaměřen na metody studia struktury materiálů a jejich chemického a fázového složení metodami transmisní a skenovací elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou. Předmět rozvíjí dosavadní znalosti studentů a zaměřuje se zejména na aplikace v oblasti nanomateriálů a nanotechnologií. Studenti budou hlouběji seznámeni nejen se zmíněnými zobrazovacími metodami, s principy získání a zpracování příslušných obrazových záznamů a instrumentací jednotlivých mikroskopů. Teoreticky se seznámí s přístrojovou technikou, pomůckami a postupy určenými pro správnou přípravu vzorků. Dále se seznámí s kombinovanými technikami a korelativní mikroskopií, tedy technikami, které kombinují různé druhy zobrazování s analytickými metodami. Veškeré informace budou studentům podávány ve vztahu k nanotechnologiím a dokládány příklady a konkrétními snímky nanočástic/nanomateriálů a aplikací v nanovědách.

Povinná literatura:

VŮJTEK, Milan, Roman KUBÍNEK a Miroslav MAŠLÁŇ. Nanoskopie. Olomouc: Univerzita Palackého, 2012. ISBN 978-80-244-3102-4. BONNELL, D. editor. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy. Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH, 2001. WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambridge University Press,1997. KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Praha: Nakladatelství ČVUT, 2011. ISBN 978-80-01-04729-3.

Doporučená literatura:

KUBÍNEK. Roman, Milan VŮJTEK a Miroslav MAŠLÁŇ. Mikroskopie skenující sondou. Olomouc: Univerzita Palackého, 20003. ISBN 80-244-0602-0. JONŠTA, Zdeněk a Vlastimil VODÁREK. Strukturně fázová analýza II. Ostrava: Texty PGS VŠB-TU, 1999. HULÍNSKÝ, Václav a Karel JUREK. Zkoumání látek elektronovým paprskem. Praha: SNTL, 1982. YAO N., WANG Z. L. Handbook of microscopy for nanotechnology. Kluwer Academic Publishers, 2005. JANDOŠ, František, Ríša ŘÍMAN a Antonín GEMPERLE. Využití moderních laboratorních metod v metalografii. Praha: SNTL, 1985. KRATOŠOVÁ, Gabriela, Kateřina DĚDKOVÁ, Ivo VÁVRA a Fedor ČIAMPOR. Investigation of nanoparticles in biological objects by electron microscopy techniques. In: Intracellular Delivery II: Fundamentals and Applications (Eds: Aleš Prokop, Y. Iwasaki, A. Harada), Springer Verlag, 2014.

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

E-learning

Další požadavky na studenta

Pro tento předmět nejsou stanoveny další požadavky na studenta.

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

- Interakce elektronů s hmotou. - Základní typy elektronových mikroskopů. - Princip funkce transmisního elektronového mikroskopu. - Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. - Princip funkce skenovacího elektronového mikroskopu.. - Analytické elektronové mikroskopy. - Interakce iontového svazku s hmotou - Teoretické základy metod mikroskopie rastrovací sondou. (SPM). - Skenovací tunelovací mikroskopie (STM). - Mikroskopie atomárních sil (AFM). - Ostatní metody SPM.

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 2013/2014 letní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zkouška Zkouška 100  51
Rozsah povinné účasti: xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2019/2020 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2018/2019 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2017/2018 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2016/2017 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2015/2016 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2014/2015 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2014/2015 (N3942) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán
2013/2014 (N3942) Nanotechnologie (3942T001) Nanotechnologie P čeština Ostrava 1 povinný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku