9360-0144/01 – Laboratorní cvičení z mikroskopie (LCM)
Garantující katedra | Centrum nanotechnologií | Kredity | 3 |
Garant předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. | Garant verze předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. |
Úroveň studia | pregraduální nebo graduální | Povinnost | povinný |
Ročník | 1 | Semestr | letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
Rok zavedení | 2010/2011 | Rok zrušení | 2019/2020 |
Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | navazující magisterské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Cílem je procvičit metody elektronové mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou včetně přípravy vzorků a vyhodnocení výsledků.
Vyučovací metody
Semináře
Experimentální práce v laboratoři
Anotace
Předmět navazuje na přednášky z mikroskopie rastrovací sondou a elektronové mikroskopie. Prakticky budou procvičovány aplikace uvedených metod (elektronová mikroskopie a elektronová mikroanalýza, mikroskopie atomárních sil) při řešení problémů chemické, strukturní a fázové analýzy materiálů v mikro- a nano- rozměrech. Pozornost bude věnována také metodám přípravy vzorků, vyhodnocení získaných výsledků a jejich interpretaci v nanotechnologiích.
Povinná literatura:
Doporučená literatura:
Další studijní materiály
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Pro tento předmět nejsou stanoveny další požadavky na studenta.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii.
- Příprava vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii.
- Skenovací elektronová mikroskopie, sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony
- Rentgenová mikroanalýza
- Analýza inkluzí v kovových vzorcích
- Studium interkalovaných jílových minerálů
- Studium morfologie a struktury kompozitních materiálů
- Měření vzorků metodou AFM v kontaktním režimu. Měření povrchů polovodičů
a mikro-vpichů na povrchu oceli.
- Měření vzorků metodou AFM v nekontaktním režimu. Měření částic vybraných
práškových vzorků (fylosilikáty, oxidy).
- Vyhodnocení a úprava dat získaných z AFM. Vyhodnocení pomocí programu
SPMLab. Vyhodnocení a úprava dat pomocí programu Gwyddion.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky