9360-0211/01 – Speciální metody analytické chemie (SMACH)
| Garantující katedra | Centrum nanotechnologií | Kredity | 10 |
| Garant předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. | Garant verze předmětu | doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc. |
| Úroveň studia | postgraduální | Povinnost | povinně volitelný |
| Ročník | | Semestr | zimní + letní |
| | Jazyk výuky | čeština |
| Rok zavedení | 2012/2013 | Rok zrušení | |
| Určeno pro fakulty | USP | Určeno pro typy studia | doktorské |
Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi
Studenti se blíže seznámí s metodami chemické analýzy materiálů se zaměřením na analýzu nanomateriálů. Pozornost bude věnována zejména vybraným spektrálním metodám. Budou probrány metody rentgenové spektrální analýzy a emisní spektrální analýzy s doutnavým výbojem pro analýzu velmi tenkých vrstev. Dále budou představeny metody spektrální analýzy v kombinaci s elektronovými mikroskopy pro charakterizaci mikro- a nano- částic a Ramanova spektrometrie v kombinaci s mikroskopem.
Vyučovací metody
Individuální konzultace
Anotace
Povinná literatura:
1. Z. Holzbecher, J. Churáček, Analytická chemie. SNTL, Praha 1987.
2. J. Kenkel, Analytical Chemistry for Technicians, Third Edition, CRC 2002.
3. R. Tertian, F. Claisse, Priciples of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis, Hayden & son Ltd, London 1982.
Doporučená literatura:
1. J. Zýka, aj., Analytická příručka, 2. díl, SNTL, Praha 1988.
2. E. P. Bertin, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, New York - London 1975.
3. V. Hulínský, K. Jurek, Zkoumání látek elektronovým paprskem, SNTL, Praha 1982.
3. D. B. Williams, Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science, Verlag chemie international, Florida - Basel 1984.
4. N. Yao, Z. L. Wang (Eds.), Handbook of microscopy for nanotechnology, Kluwer Acadenic Publishers, Boston 2005.
5. Kolektiv autorů: Sborník přednášek kurzu Rentgenová spektrometrie, 2 THETA, Český Těšín 2005. ISBN: 80-86380-17-3.
Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta
E-learning
Další požadavky na studenta
Zpracovat seminární práci dle zadání garanta předmětu.
Prerekvizity
Předmět nemá žádné prerekvizity.
Korekvizity
Předmět nemá žádné korekvizity.
Osnova předmětu
1. Spektrální metody analytické chemie
Atomová emisní spektrometrie (buzení jiskrou, doutnavým výbojem, ICP), optické spektrometry, hmotnostní spektrometrie
Atomová absorpční spektrometrie (plamenová a elektrotermická atomizace, metoda těkavých hydridů)
Rentgenová spektrální analýza, rtg. fuorescenční spektrometrie (XRF), XRF s fokusovaným rtg. svazkem, metoda totálního odrazu, grazing metoda
Elektronová spektroskopie (XPS, AES)
Molekulová absorpční analýza, oblast UV/VIS, infračervená spektrometrie
Ramanova spektrometrie, RS ve spojení s mikroskopem.
2. Elektrochemické metody
Konduktometrie, přímá, konduktometrické titrace
Potenciometrie, iontově selektivní elektrody, potenciometrické titrace
Elektrolytické metody, voltametrie (polarografgie), nové voltametrické metody, coulometrie
Elektromigrační separační metody, kapilární elektroforéza, izotachoforéza.
3. Analytická elektronová mikroskopie (AEM)
Základy elektronové mikroskopie, interakce elektronového paprsku s hmotou a základní prvky elektronových mikroskopů
Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), skenovací elektronová mikroskopie (SEM), skenovací transmisní elektronová mikroskopie (STEM.
Rentgenová spektrální mikroanalýza, spektrometrie Augerových elektronů
Spektrometrie ztrátové energie elektronů (EELS)
Fokusovaný iontový svazek (FIB), manipulace se vzorkem v nano-rozměrech.
Podmínky absolvování předmětu
Výskyt ve studijních plánech
Výskyt ve speciálních blocích
Hodnocení Výuky
Předmět neobsahuje žádné hodnocení.