9360-0227/02 – Metody charakterizace nanostruktur (MCHN)

Garantující katedraCentrum nanotechnologiíKredity10
Garant předmětudoc. Dr. Mgr. Kamil PostavaGarant verze předmětudoc. Dr. Mgr. Kamil Postava
Úroveň studiapostgraduálníPovinnostpovinný
RočníkSemestrzimní + letní
Jazyk výukyangličtina
Rok zavedení2020/2021Rok zrušení
Určeno pro fakultyFMTUrčeno pro typy studiadoktorské
Výuku zajišťuje
Os. čís.JménoCvičícíPřednášející
PIS50 prof. Ing. Jaromír Pištora, CSc.
PLA88 prof. Ing. Daniela Plachá, Ph.D.
POS40 doc. Dr. Mgr. Kamil Postava
SIM75 doc. Ing. Gražyna Simha Martynková, Ph.D.
Rozsah výuky pro formy studia
Forma studiaZp.zak.Rozsah
prezenční Zkouška 20+0
kombinovaná Zkouška 20+0

Cíle předmětu vyjádřené dosaženými dovednostmi a kompetencemi

Cílem předmětu je získat přehled o charakterizačních metodách pro studium nanostruktur. Dílčím čílem je hluboké pochopení a detailní osvojení si charakterizačních metod vztahujících se k tématu disertační práce studenta.

Vyučovací metody

Přednášky
Individuální konzultace
Experimentální práce v laboratoři

Anotace

Předmět zahrnuje fyzikální a chemické analytické metody pro charaketrizaci nanostruktur, principy měření, hranice charaketrizačních metod a specifikcké aplikace. Konkrétní zaměření předmětu bude vybíráno v souladu se specializací studenta s tématem jeho disertační práce.

Povinná literatura:

S. Myhra, J. C. Rivière, Characterization of Nanostructures, CRC Press 2016 D.Brabazon and A.Raffer, Advanced Characterization Techniques for Nanostructures, In: Emerging Nanotechnologies for Manufacturing, Edited by: W. Ahmed and M. J. Jackson, William Andrew Publ. 2009 A. L. Da Róz, M. Ferreira, O. N. Oliveira, Jr., Nanocharacterization Techniques, 2017 S. T. Raju, T, Ajesh Z. R. Kumar, Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization, Elsevier 2017 R. Haight, J. B Hannon, Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization, World Scientific 2011 E. Lundanes, L. Reubsaet, T. Greibrokk, Chromatography, basic Principles, Sample Preparations and Related Methods, J. Wiley and Sons, 2014 L. Eckertová, L. Frank a A. Delong ed. Metody analýzy povrchů: elektronová mikroskopie a difrakce. Praha: Academia, 1996. L. Frank ed., Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody, Praha: Academia, 2002.

Doporučená literatura:

B. Bhushan (Ed.), Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology, Sprnger 2010 B. Voigtländer, Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology), Springer 2015 S. Svanberg, Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991 P. Griffiths, J. A. De Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Chemical Analysis: A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Applications), Wiley 2nd. Ed, 2007 N. Yao, Z. L. Wang, Handbook of Microscopy for Nanotechnology (Nanostructure Science and TX‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniquesechnology), Springer 2005 J. Guo, X‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniques, Willey 2010 M. F. Vitha, Chromatography: Principles and Instrumentation, J. Wiley and Sons, 2017

Forma způsobu ověření studijních výsledků a další požadavky na studenta

ústní zkouška

E-learning

Další požadavky na studenta

Cílem předmětu je získat přehled o charakterizačních metodách pro studium nanostruktur. Dílčím čílem je detailní pochopení a osvojení si charakterizačních metod vztahujících se k tématu disertační práce studenta.

Prerekvizity

Předmět nemá žádné prerekvizity.

Korekvizity

Předmět nemá žádné korekvizity.

Osnova předmětu

1. Elektronová mikroskopie nanostruktur (příprava vzorků, Skenovací elektronová mikroskopie, Transmisní elektronová mikroskopie, speciální metody zobrazování a postupy při mikroskopování) 2. Mikroskopie rastrovací sondou (Mikroskopie atomárních sil, Mikroskopie skenovací sondou, Mikroskopie magnetických sil, Skenovací optická mikroskopie v blízkém poli) 3. Metody založeny na rentgenovém záření (X-ray difrakce, X-ray fotoelektronová spektroskopie, EDS) 4. Optická spektroskopie nanostruktur (IR a Ramanova spektroskopie, UV-vis spektroskopie a fotoluminiscence, THz spektroskopie, Atomová absorpční spektroskopie a ICP spektroskopie pro elementární analýzu), hmotnostní spektroskopie, nuklearní magnetická rezonance 5. Termická analýza (Diferenční termická analýza, Diferencialni Skenovací Kalorimetrie, Termogravitometrie, simultánní TG/DTA/DSC) 6. Velikost a tvarovitost nanočástic, povrch a porozita (Dynamický rozptyl světla, Laserová difrakce, chromatografie, BET) 7. Organická analýza pro charakterizací nanostruktur (rozměrově-vylučovací chromatografie, superkritická fluidní, plynová a kapalinová chromatografie, hmotnostní detektory v chromatografii, elektromigrační metody)

Podmínky absolvování předmětu

Prezenční forma (platnost od: 2020/2021 zimní semestr)
Název úlohyTyp úlohyMax. počet bodů
(akt. za podúlohy)
Min. počet bodů
Zkouška Zkouška  
Rozsah povinné účasti:

Zobrazit historii

Výskyt ve studijních plánech

Akademický rokProgramObor/spec.Spec.ZaměřeníFormaJazyk výuky Konz. stř.RočníkZLTyp povinnosti
2020/2021 (P0719D270003) Nanotechnologie P angličtina Ostrava povinný stu. plán
2020/2021 (P0719D270003) Nanotechnologie K angličtina Ostrava povinný stu. plán

Výskyt ve speciálních blocích

Název blokuAkademický rokForma studiaJazyk výuky RočníkZLTyp blokuVlastník bloku